[发明专利]双模式表面等离子体耦合发射荧光成像检测装置及方法

摘要

双模式表面等离子体耦合发射荧光成像检测装置及方法，涉及一种荧光成像检测。所述装置设有样品系统、入射臂系统和检测臂系统；所述样品系统包括双旋转台、样品架、棱镜和光学石英基底；所述双旋转台设有上旋转台、下旋转台和中心轴，所述入射臂系统设有激光光源、衰减器、起偏器、显微物镜、针孔、平凸透镜、方形可变光阑和第一光学导轨；所述检测臂系统设有滤光片、成像透镜、CCD接收器和第二光学导轨。调节入射臂系统中的方形可变光阑的尺寸获得大小合适的矩形入射光斑；选择RK模式的SPCE成像的检测；选择KR模式的SPCE成像的检测。可有效避免在单一的RK模式下，当荧光信号太弱时较难检测的问题。

主权项

双模式表面等离子体耦合发射荧光成像检测装置，其特征在于设有样品系统、入射臂系统和检测臂系统；样品系统包括双旋转台、样品架、棱镜和光学石英基底；所述双旋转台设有上旋转台、下旋转台和中心轴，上旋转台和下旋转台均套在中心轴外；中心轴与外部光学平台连接，样品架固于中心轴上端；棱镜置于样品架上；光学石英基底设于棱镜底边上，光学石英基底表面设有纳米级金属薄膜层，纳米级金属薄膜层表面设有荧光传感膜，光学石英基底与棱镜之间之间涂有光学常数与两者匹配的溶液；入射臂系统设有激光光源、衰减器、起偏器、显微物镜、针孔、平凸透镜、方形可变光阑和第一光学导轨；激光光源、衰减器、起偏器、显微物镜、针孔、平凸透镜和方形可变光阑由外向内依次排列且均设于光学导轨上；入射臂系统通过第一光学导轨固于上旋转台；检测臂系统设有滤光片、成像透镜、CCD接收器和第二光学导轨；滤光片、成像透镜和CCD接收器由内向外依次排列且固于第二光学导轨上，检测臂系统通过第二光学导轨固于下旋转台上。