[发明专利]快速地位置分辨地确定检查区域内磁共振弛豫参数的方法有效

专利信息
申请号: 201310224269.3 申请日: 2013-04-22
公开(公告)号: CN103376432A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: A·格雷瑟;P·施米特;H·薛 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R33/50 分类号: G01R33/50;G01R33/54;A61B5/055
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于快速地位置分辨地确定检查区域内的磁共振-弛豫参数的方法。首先将准备脉冲射入所述检查区域中。在纵向磁化的弛豫期间,借助快速的磁共振序列在至少两个不同的反转时间上采集位置编码的磁共振信号。针对每个反转时间从所述磁共振信号中重建图像数据组,所述图像数据组相互之间弹性配准。从所配准的图像数据组中位置正确地确定磁共振-弛豫参数的值。
搜索关键词: 快速 位置 分辨 确定 检查 区域内 磁共振 参数 方法
【主权项】:
一种用于快速地位置分辨地确定检查区域内的磁共振‑弛豫参数的方法,包括以下步骤:‑将准备脉冲(26)射入所述检查区域;‑在纵向磁化的弛豫期间,在至少两个不同的反转时间(TI1,TI2,等)上借助快速的磁共振序列采集位置编码的磁共振信号;‑在每个反转时间(TI1,TI2,等)从所述磁共振信号中重建图像数据组(30,31,32,等);‑相互弹性配准(50)至少两个图像数据组;‑从所配准的图像数据组(40,41,42,等)中位置正确地确定磁共振‑弛豫参数的值。
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