[发明专利]一种X射线衍射仪薄膜测试样品台有效

专利信息
申请号: 201310223577.4 申请日: 2013-06-03
公开(公告)号: CN103293173A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 张东平;李岩;范平;梁广兴;郑壮豪;罗景庭 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种用于X射线衍射仪的薄膜测试样品台,由一个固定支架、三根弹簧、一个平板型样品架、一个调节螺丝组成。所述的固定支架为直角“Z”字形,在固定支架下方平板中央开有螺丝孔,及三个弹簧钩孔,平板型样品架也开有三个弹簧拉钩孔,平板型样品架通过三个弹簧分别通过拉钩孔与固定支架相联接,调节螺丝穿过固定支架的螺丝孔与样品架下底面接触,通过调节螺丝,可以自由调节样品架的高度,最终使样品表面与固定支架上表面在同一平面内。本发明可以方便不同规格样品的X射线衍射测量,特别是不同衬底厚度的薄膜样品的X射线衍射测量。
搜索关键词: 一种 射线 衍射 薄膜 测试 样品
【主权项】:
一种用于X射线衍射仪的薄膜测试样品台,其特征在于由固定支架(1)、三根弹簧(7)、样品架(6)、调节螺丝(8)组成。所述的固定支架为直角“Z”字形,下方平板(3)中央开有螺丝孔(4)和三个弹簧联接拉钩孔(5),样品架(6)也同样有三个弹簧拉钩孔(5)样品架(6)通过三根弹簧(7)与固定支架(1)下平板(3)联接,调节螺丝(8)穿过固定支架下平板(3)的中央螺丝孔(4)与样品架(6)下底面接触,通过调节螺丝(8)可以自由调节样品架(6)的高度,使样品(9)上表面与固定支架(1)上方平板(2)表面水平。
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