[发明专利]一种X射线衍射仪薄膜测试样品台

说明书

技术领域

本发明与X射线衍射仪样品测量相关，特别是薄膜样品的测量相关，既可以作为薄膜样品的测量，也可以作为其他粉末样品的测量。

技术背景

X射线衍射测量是鉴定材料物相结构的重要手段。当X射线以掠角θ入射到某一点阵晶格的晶面上时，在符合布拉格方程的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。从每一θ角符合布拉格方程条件的反射面得到反射，测出θ后，即可确定材料的点阵晶面间距、晶胞大小和类型等，根据衍射线的强度，还可进一步确定晶胞内原子的排布。材料在进行X射线衍射测量中，为了测量的准确性，通常要求样品必须放在仪器特定的平面位置内。现在主流的X射线衍射仪(如布鲁克、理学等)中，对粉末样品，样品台使用的是在表面带有浅坑的玻璃片，将粉末放入浅坑中压平，并且要求与玻璃表面在同一水平面内，然后将玻璃样品台插入仪器相应位置，以保证测量的精度。然而对不同基底厚度的薄膜样品，通常则需要根据样品的厚度专门制作样品架，以保证膜面在样品台平面内，才可以保证测量准确性。由此可见，这样针对特定样品制作的样品台不具有通用性，不但给测量带来诸多不便，且对不同样品定制不同的样品架也是一种浪费。本发明旨在设计一种通用性强的X射线衍射仪测试样品台。

发明内容

本发明要解决的是X射线衍射测量中样品台通用性差的问题，提供一种新型X射线衍射仪薄膜样品测试台，对粉末样品也具有较好的适用性。

本发明的技术方案如下：

一种用于X射线衍射仪的薄膜样品测试台，其特征是由固定支架、三根弹簧、样品架、调节螺丝四部分组成。所述的固定支架为直角“Z”字形，下方平板中央开有螺丝孔和三个弹簧联接拉钩孔，样品架也同样有三个弹簧拉钩孔，样品架通过三根弹簧与固定支架下平板联接，调节螺丝穿过固定支架下平面中央螺丝孔与样品架底面接触，通过调节螺丝可以自由调节样品架的高度，使样品表面与固定支架上平板表面水平。

本发明的技术效果：

1、本发明采用调节螺丝自由调节样品架高度，适合不同衬底厚度薄膜样品的测量，不需要根据不同的薄膜样品厚度加工不同的样品架，不但提高了测量效率，同时也避免重复加工样品台带来的浪费；

2、本发明适用性强，不但适合薄膜样品的测量，同时也适用粉末样品的测量；

3、本发明样品架表面可以增加吸盘，防止样品的滑落；

4、本发明样品架可以是加热板或制冷片，实现样品的变温测量。

附图说明

图1固定支架的示意图

图2样品架示意图

图3X射线衍射仪薄膜样品测试台整体示意图

图4X射线衍射仪薄膜样品测试台侧视图

具体实施方式

参阅图3，先加工一个直角“Z”字形固定支架(1)，在下平板(3)中央开螺丝孔(4)，并在以螺丝孔(4)为圆心的圆周上等间距开三个弹簧拉钩孔(5)，在平板型样品架(6)与固定支架下平板(3)对应位置也开三个弹簧拉钩孔(5)，三根相同的弹簧(7)，通过弹簧拉钩孔(5)联接在固定支架(1)和样品台(6)上，调节螺丝(8)穿过固定支架(1)下平板上的螺丝孔(4)，与样品台(6)底面接触，通过拧调节螺丝(8)，顶样品台(6)平板移动到合适位置，使样品(9)表面与固定支架(1)上表面在同一水平面。最后将样品测试台的固定支架(1)的上平板(2)端插入X射线衍射仪相对应位置即可以进行相关测量。