[发明专利]使用应力源层部分的剥脱方法有效
申请号: | 201310195201.7 | 申请日: | 2013-05-23 |
公开(公告)号: | CN103426726B | 公开(公告)日: | 2017-03-01 |
发明(设计)人: | S·W·比德尔;K·E·福格尔;P·A·劳罗;李宁;D·K·萨达那;I·阿尔霍默迪 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司;阿卜杜勒阿齐兹国王科技城 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所11247 | 代理人: | 于静,张亚非 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及使用应力源层部分的剥脱方法。提供了一种使用位于基础衬底的最上表面上的一部分但不是全部上的至少一个应力源层部分剥脱基础衬底的局部区域的方法。该方法包括提供具有均匀厚度和跨过整个基础衬底的平面最上表面的基础衬底。在基础衬底的最上表面的至少一部分但不是全部上形成具有形状的至少一个应力源层部分。执行剥脱,其从基础衬底去除材料层部分,并提供剩余的基础衬底部分。材料层部分具有至少一个应力源层部分的形状,而剩余的基础衬底部分具有位于其中的至少一个开口,该开口与至少一个应力源层的形状相关。 | ||
搜索关键词: | 使用 应力 部分 剥脱 方法 | ||
【主权项】:
一种提供半导体结构的方法,包括:提供具有均匀厚度和平面最上表面的基础衬底,所述平面最上表面跨过整个所述基础衬底;在所述基础衬底的所述最上表面的至少一部分但不是全部上形成具有形状的至少一个应力源层部分;从所述基础衬底剥脱材料层部分,其中所述材料层部分具有所述至少一个应力源层部分的所述形状,且其中剩余的基础衬底部分具有位于其中的至少一个开口,所述至少一个开口与所述至少一个应力源层的所述形状相关,其中所述基础衬底具有比所述至少一个应力源层部分的断裂韧度更低的断裂韧度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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