[发明专利]一种高碳钢盘条奥氏体晶粒尺寸测量方法有效
| 申请号： | 201310183077.2 | 申请日： | 2013-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN103257098A | 公开（公告）日： | 2013-08-21 |
| 发明（设计）人： | 王雷;李平;麻晗 | 申请（专利权）人： | 江苏省沙钢钢铁研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215625 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高碳钢盘条奥氏体晶粒尺寸测量方法，该方法包括以下步骤：首先取一段盘条并在垂直于盘条长度方向横切数道缺口，然后将盘条放至加热炉中加热使之完全奥氏体化，加热温度一般为860℃～1300℃，随后将盘条迅速放至冷水中进行淬火处理，最后将淬火后的样品沿缺口打断，使用扫描电镜对断口进行拍照，断口为沿晶开裂断口，使用扫描电镜直接观察断口上晶粒的立体形貌，测量晶粒尺寸。本发明方法制样简单，无需腐蚀，成功率高，可以准确测定高碳钢盘条奥氏体晶粒的尺寸。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高碳钢 奥氏体 晶粒 尺寸 测量方法 | ||
【主权项】：
一种高碳钢盘条奥氏体晶粒尺寸测量方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：（1）试样制备：取一段长10～30cm盘条，沿垂直于盘条长度方向横切至少1道缺口；然后将盘条放入加热炉加热至860℃～1300℃，保温5～120分钟，使之完全奥氏体化，随后将盘条放入冷水中淬火，干燥之后将缺口试样沿缺口处打断；（2）晶粒尺寸测量：使用扫描电镜对断口进行拍照，沿晶界直接测量晶粒的尺寸。
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