[发明专利]基于高精度二维平移台的探测器错位成像实验装置和方法无效

专利信息
申请号: 201310180138.X 申请日: 2013-05-16
公开(公告)号: CN103257034A 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 李亚鹏;何斌;朱俊青 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 田春梅
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 基于高精度二维平移台的探测器错位成像实验装置和方法属于光电成像和图像处理技术领域,解决了现有探测器错位成像实现方法存在的结构复杂、实现难度大、周期长、成本高等技术问题。该实验装置包括光学镜头、卡口、镜筒、探测器座、连接板、高精度二维平移台、连接座和底座;利用高精度二维平移台实现了二维精确移位,满足探测器错位精度要求,可实现不同的探测器错位成像模式,按照既定移位方式对靶标成像,对得到的多幅低分辨率图像进行融合、重建等处理,得到高分辨率图像,以验证和比较探测器不同错位成像模式的实验效果。本发明的装置结构简单,安装方便,成本低,易于实现,可应用于可见光和红外探测器错位成像技术,具有广泛适用性。
搜索关键词: 基于 高精度 二维 平移 探测器 错位 成像 实验 装置 方法
【主权项】:
基于高精度二维平移台的探测器错位成像实验装置,包括光学镜头(5)和高精度二维平移台(8),所述高精度二维平移台(8)包括X方向位移调节旋钮(9)和Y方向位移调节旋钮(10),其特征在于,该装置还包括连接板(1)、探测器座(2)、镜筒(3)、卡口(4)、连接座(6)和底座(7);所述卡口(4)与镜筒(3)通过沉头螺钉连接,卡口(4)的一端与光学镜头(5)连接,镜筒(3)的一端与探测器座(2)连接,探测器座(2)通过连接板(1)与高精度二维平移台(8)连接,高精度二维平移台(8)通过连接座(6)与底座(7)连接。
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