[发明专利]基于高精度二维平移台的探测器错位成像实验装置和方法无效
| 申请号： | 201310180138.X | 申请日： | 2013-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN103257034A | 公开（公告）日： | 2013-08-21 |
| 发明（设计）人： | 李亚鹏;何斌;朱俊青 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 田春梅 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 高精度 二维 平移 探测器 错位 成像 实验 装置 方法 | ||
1.基于高精度二维平移台的探测器错位成像实验装置，包括光学镜头（5）和高精度二维平移台（8），所述高精度二维平移台（8）包括X方向位移调节旋钮（9）和Y方向位移调节旋钮（10），其特征在于，该装置还包括连接板（1）、探测器座（2）、镜筒（3）、卡口（4）、连接座（6）和底座（7）；所述卡口（4）与镜筒（3）通过沉头螺钉连接，卡口（4）的一端与光学镜头（5）连接，镜筒（3）的一端与探测器座（2）连接，探测器座（2）通过连接板（1）与高精度二维平移台（8）连接，高精度二维平移台（8）通过连接座（6）与底座（7）连接。
2.如权利要求1所述的基于高精度二维平移台的探测器错位成像实验装置，其特征在于，所述探测器座（2）包括用于传输视频信号和驱动控制信号的数据接口。
3.如权利要求1所述的基于高精度二维平移台的探测器错位成像实验装置，其特征在于，所述光学镜头（5）为标准摄影镜头或工业镜头或自制镜头。
4.如权利要求1所述的基于高精度二维平移台的探测器错位成像实验装置，其特征在于，所述镜筒（3）通过精密螺纹与探测器座（2）连接。
5.基于高精度二维平移台的探测器错位成像实验方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
步骤一、在初始位置探测器对靶标进行成像，得到第一幅低分辨率图像；
步骤二、调节高精度二维平移台（8）的X方向位移调节旋钮（9），移位所用探测器半个像元的距离，得到与步骤一所述第一幅低分辨率图像在X方向错位半个像元距离的第二幅低分辨率图像；
步骤三、调节高精度二维平移台（8）的Y方向位移调节旋钮（10），移位所用探测器半个像元的距离，得到与步骤一所述第一幅低分辨率图像在X、Y方向均错位半个像元距离的第三幅低分辨率图像；
步骤四、调节高精度二维平移台（8）的X方向位移调节旋钮（9），向负X方向移位所用探测器半个像元的距离，得到与步骤一所述第一幅低分辨率图像在Y方向错位半个像元距离的第四幅低分辨率图像；
步骤五、利用上位机对步骤一至步骤四得到的两幅或四幅低分辨率图像进行融合、重建、滤波处理，得到高分辨率图像，验证并比较探测器的各种错位成像模式的实验效果，以完成探测器错位成像实验。
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