[发明专利]检测散热单元的方法及该散热单元的检测系统有效
| 申请号： | 201310141685.7 | 申请日： | 2013-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN104123203B | 公开（公告）日： | 2017-06-27 |
| 发明（设计）人： | 李秉蔚;陈冠宏 | 申请（专利权）人： | 神讯电脑（昆山）有限公司;神基科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种检测散热单元的方法及该散热单元的检测系统。所述检测散热单元的方法包括（1）设定预设温差值；（2）设定处理器的工作周期为第一工作周期值；（3）检测处理器于第一工作周期值下的温度；（4）设定处理器的工作周期由第一工作周期值至第二工作周期值；（5）检测处理器于第二工作周期值下的温度；（6）计算处理器于第一工作周期值与第二工作周期值的温差；（7）比较温差与预设温差值以产生记录值；（8）重复步骤（2）至（7），并且累计记录值；以及（9）依据累计的记录值，判断散热单元是否异常。本发明可利用重复地检测处理器在不同工作周期下的温差来判断散热单元是否异常，进而降低测试时间以及环境变异可能造成的测试误差。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 散热 单元 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种检测散热单元的方法，适用于一电子装置，其特征在于，该电子装置包括一处理器以及热连接该处理器的该散热单元，该方法包括：（1）设定一预设温差值；（2）设定该处理器的工作周期为一第一工作周期值（duty cycle）；（3）侦测该处理器于该第一工作周期值下的温度；（4）设定该处理器的工作周期由该第一工作周期值至一第二工作周期值；（5）侦测该处理器于该第二工作周期值下的温度；（6）计算该处理器于该第一工作周期值与该第二工作周期值的温差；（7）比较该温差与该预设温差值以产生一记录值；（8）重复步骤（2）至（7），并且累计该些记录值；（9）依据累计的记录值，判断该散热单元是否异常。
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