[发明专利]电性测量装置和电性测量方法无效
| 申请号： | 201310116056.9 | 申请日： | 2013-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN104101740A | 公开（公告）日： | 2014-10-15 |
| 发明（设计）人： | 陈荣哲 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R27/02;G01R19/00;G01R27/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电性测量装置，用于测量一光学组件的电性，所述电性为电流、电压、电阻、电容与电感中的至少一种。所述光学组件包括多个侧壁以及多个接触部，每个所述接触部分别形成于两个相邻的所述侧壁之间。所述电性测量装置包括多个导电部、多个定位治具以及一测量仪表。所述多个定位治具用于与所述多个导电部分别相抵接，使得所述导电部与所述接触部紧密接触。所述测量仪表用于与任意两个所述导电部电性连接，并通过所述导电部测量所述光学组件的电性。本发明还提供一种电性测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种电性测量装置，用于测量一光学组件的电性，所述电性为电流、电压、电阻、电容与电感中的至少一种，所述光学组件包括多个侧壁以及多个接触部，每个所述接触部分别形成于两个相邻的所述侧壁之间，所述电性测量装置包括多个导电部、多个定位治具以及一测量仪表，所述多个定位治具用于与所述多个导电部分别相抵接，使得所述导电部与所述接触部紧密接触，所述测量仪表用于与任意两个所述导电部电性连接，并通过所述导电部测量所述光学组件的电性。
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