[发明专利]测试系统及方法无效
| 申请号： | 201310096242.0 | 申请日： | 2013-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN104077192A | 公开（公告）日： | 2014-10-01 |
| 发明（设计）人： | 李冬焱;周兵 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种测试系统，用于测试电子设备的性能，该测试系统包括存储单元和显示单元，所述存储单元用于存储测试表格，其中测试表格记录至少一个测试项目以及与每一个测试项目相对应的参考值；所述测试系统还包括：用于根据测试表格记录的测试项目获取电子设备相应的参数值的参数值获取单元；用于判断获取的参数值是否与相应测试项目的参考值相匹配的判断单元；以及用于控制所述显示单元显示所述电子设备的测试项目、测试项目对应的参数值及判断结果的控制单元。本发明还提供一种测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种测试系统，用于测试电子设备的性能，该测试系统包括存储单元和显示单元，其特征在于：所述存储单元用于存储测试表格，其中测试表格记录至少一个测试项目以及与每一个测试项目相对应的参考值；所述测试系统还包括：用于根据测试表格记录的测试项目获取电子设备相应的参数值的参数值获取单元；用于判断获取的参数值是否与相应测试项目的参考值相匹配的判断单元；以及用于控制所述显示单元显示所述电子设备的测试项目、测试项目对应的参数值及判断结果的控制单元。
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