[发明专利]测试系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试系统及方法，尤其涉及一种自动获取电子设备多个性能参数的测试系统及方法。

背景技术

在目前电子设备的生产过程中，常常需要获取电子设备工作的各项参数并判断各项参数是否合格，以测试电子设备的工作是否正常。而目前的测试过程较为繁琐，需要由用户依次输入相应的测试项目并进行参数判断。以光碟播放装置为例，当需要测试光碟播放装置的读碟大小时，则用户需要先输入读碟大小测试项目以控制测试装置获取碟片大小，再由用户判断该获取的参数（例如碟片大小）是否处于正常规格范围内，然后再依次进行其他参数的判断。如此通过人工输入的方式来测试电子设备，不仅需要消耗人力，而且需要花费较长的时间，不利于生产效率的提高及生产过程的自动化，产品成本难以降低。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种自动获取电子设备多个性能参数的测试系统。

另外，还有必要提供一种自动获取电子设备多个性能参数的测试方法。

一种测试系统，用于测试电子设备的性能，该测试系统包括存储单元和显示单元，所述存储单元用于存储测试表格，其中测试表格记录至少一个测试项目以及与每一个测试项目相对应的参考值；所述测试系统还包括：

用于根据测试表格记录的测试项目获取电子设备相应的参数值的参数值获取单元；

用于判断获取的参数值是否与相应测试项目的参考值相匹配的判断单元；以及

用于控制所述显示单元显示所述电子设备的测试项目、测试项目对应的参数值及判断结果的控制单元。

一种测试方法，用于测试系统以测试电子设备的性能，所述测试方法包括步骤：

提供一个测试表格，其中测试表格记录至少一个测试项目以及与每一个测试项目相对应的参考值；

根据测试表格记录的测试项目获取电子设备相应的参数值；

判断获取的参数值是否与相应测试项目的参考值相匹配；以及

显示所述电子设备的测试项目、测试项目对应的参数值及判断结果。

上述测试系统及测试方法，在测试电子设备性能的过程中可根据预置的测试表格中记录的测试项目自动获取待测电子设备的各项性能参数，从而缩短了测试时间，提高了工作效率。

附图说明

图1为本发明一较佳实施方式的测试系统的功能模块图。

图2为本发明一较佳实施方式的测试方法的流程图。

主要元件符号说明