[发明专利]一种V波段平面电路测试夹具无效

专利信息
申请号: 201310080806.1 申请日: 2013-03-14
公开(公告)号: CN103207291A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: 汪书娜;李凌云;孙晓玮;钱蓉 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 上海泰能知识产权代理事务所 31233 代理人: 宋缨;孙健
地址: 200050 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种V波段平面电路测试夹具,包括用于放置测试电路的底座、第一波导结构件和第二波导结构件,所述第一波导结构件安装在所述底座上形成输入波导口,所述第二波导结构件安装在所述底座上形成输出波导口,所述输入波导口的方向和输出波导口的方向与测试电路的微带传输线方向一致;所述测试电路的微带处于开放环境中。本发明可独立通用,易于加工,体积小,损耗低,装卸方便,可轻松的实现高频电路或芯片的测试工作。
搜索关键词: 一种 波段 平面 电路 测试 夹具
【主权项】:
一种V波段平面电路测试夹具,包括用于放置测试电路的底座(3)、第一波导结构件(1)和第二波导结构件(2),其特征在于,所述第一波导结构件(1)安装在所述底座(3)上形成输入波导口(8),所述第二波导结构件(2)安装在所述底座(3)上形成输出波导口(9),所述输入波导口(8)的方向和输出波导口(9)的方向与测试电路的微带(10)传输线方向一致;所述测试电路的微带(10)处于开放环境中。
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