[发明专利]一种V波段平面电路测试夹具无效
| 申请号： | 201310080806.1 | 申请日： | 2013-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN103207291A | 公开（公告）日： | 2013-07-17 |
| 发明（设计）人： | 汪书娜;李凌云;孙晓玮;钱蓉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海泰能知识产权代理事务所 31233 | 代理人： | 宋缨;孙健 |
| 地址： | 200050 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 波段 平面 电路 测试 夹具 | ||
1.一种V波段平面电路测试夹具，包括用于放置测试电路的底座（3）、第一波导结构件（1）和第二波导结构件（2），其特征在于，所述第一波导结构件（1）安装在所述底座（3）上形成输入波导口（8），所述第二波导结构件（2）安装在所述底座（3）上形成输出波导口（9），所述输入波导口（8）的方向和输出波导口（9）的方向与测试电路的微带（10）传输线方向一致；所述测试电路的微带（10）处于开放环境中。
2.根据权利要求1所述的V波段平面电路测试夹具，其特征在于，所述输入波导口（8）和输出波导口（9）均采用脊波导转换形式，一端为波导接口，另一端设有脊，所述脊直接压接在测试电路的微带（10）上。
3.根据权利要求2所述的V波段平面电路测试夹具，其特征在于，所述脊波导转换形式为阶梯式单脊波导形式。
4.根据权利要求3所述的V波段平面电路测试夹具，其特征在于，所述第一波导结构件（1）整体呈长方体结构，所述长方体结构的侧面中央位置上设有一与底座上卡槽相配且贯穿长方体结构径向的凸台，所述凸台上的一侧设有阶梯式单脊（4）；所述第二波导结构件（2）的结构与第一波导结构件（1）的结构相同。
5.根据权利要求4所述的V波段平面电路测试夹具，其特征在于，所述阶梯式单脊（4）的最后一级直接压在测试电路的微带（10）上。
6.根据权利要求4所述的V波段平面电路测试夹具，其特征在于，所述第一波导结构件（1）和第二波导结构件（2）的远离阶梯式单脊（4）的一侧的侧面还设有法兰接口（5）。
7.根据权利要求1所述的V波段平面电路测试夹具，其特征在于，所述底座（3）上还安装有带有供电孔的挡板（11）。
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