[发明专利]用于检测传感器阵列中的损坏像素的系统有效
申请号: | 201310055501.5 | 申请日: | 2013-02-21 |
公开(公告)号: | CN103257368A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 阿纳托利·G·格林贝格;韦恩·R·福斯特 | 申请(专利权)人: | 洛克威尔自动控制技术股份有限公司 |
主分类号: | G01V8/10 | 分类号: | G01V8/10;G01V13/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 朱胜;郑宗玉 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 公开了一种用于测试光学传感器(50)的操作的系统。该光学传感器(50)包括被配置为将光转换为电信号的一个或更多个感光装置(80)。测试光源(60)包括在光学传感器(50)的壳(52)内。周期性启动测试光源(60),从而以足够使感光装置(80)中的每个饱和的强度发射辐射(62)。感光装置(80)中的每个生成对应于在该装置(80)处检测到的光(62)的强度的信号。逻辑电路使用对应于光的强度的信号来识别感光装置(80)中的每个是否正在以可接受的水平运行。 | ||
搜索关键词: | 用于 检测 传感器 阵列 中的 损坏 像素 系统 | ||
【主权项】:
一种用于在安全系统中使用的光学传感器,包括:壳;光学接收器,安装在所述壳内;光源,安装在所述壳内并且被配置为以足够使所述光学接收器饱和的强度发射辐射;以及逻辑电路,被配置为:从所述光学接收器接收对应于由所述光学接收器接收到的所述辐射的强度的至少一个信号,将由所述光学接收器接收到的所述辐射的强度与预定阈值进行比较,以及响应于由所述光学接收器接收到的所述辐射的强度来生成信号。
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