[发明专利]用于检测传感器阵列中的损坏像素的系统有效
申请号: | 201310055501.5 | 申请日: | 2013-02-21 |
公开(公告)号: | CN103257368A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 阿纳托利·G·格林贝格;韦恩·R·福斯特 | 申请(专利权)人: | 洛克威尔自动控制技术股份有限公司 |
主分类号: | G01V8/10 | 分类号: | G01V8/10;G01V13/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 朱胜;郑宗玉 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 传感器 阵列 中的 损坏 像素 系统 | ||
1.一种用于在安全系统中使用的光学传感器,包括:
壳;
光学接收器,安装在所述壳内;
光源,安装在所述壳内并且被配置为以足够使所述光学接收器饱和的强度发射辐射;以及
逻辑电路,被配置为:
从所述光学接收器接收对应于由所述光学接收器接收到的所述辐射的强度的至少一个信号,
将由所述光学接收器接收到的所述辐射的强度与预定阈值进行比较,以及
响应于由所述光学接收器接收到的所述辐射的强度来生成信号。
2.根据权利要求1所述的光学传感器,其中,所述光学接收器包括响应于入射光的强度生成信号的感光装置。
3.根据权利要求1所述的光学传感器,其中,所述光学接收器包括感光元件的阵列,每个感光元件生成对应于入射在所述感光元件上的光的强度的信号。
4.根据权利要求3所述的光学传感器,其中,所述逻辑电路从所述感光元件中的每个接收所述信号,并且针对无响应或表现不佳的所述感光元件中的每个生成指示信号。
5.根据权利要求1所述的光学传感器,其中:
所述壳包括:
前壁,具有内表面和外表面,
后壁,大体上与所述前壁相对,以及
开口,延伸通过所述前壁;
所述光学接收器被安装在衬底上,所述衬底被设置为接近于所述后壁并且与所述前壁上的所述开口相对;以及
所述光源被安装为接近于所述前壁。
6.根据权利要求1所述的光学传感器,其中,所述光源选自于发光二极管、红外二极管和激光二极管之一。
7.根据权利要求1所述的光学传感器,其中,所述逻辑电路还被配置为以第一周期间隔控制所述光源来发射所述辐射并且随后将由所述光学接收器接收到的所述辐射的强度与所述预定阈值进行比较。
8.根据权利要求7所述的光学传感器,其中,所述逻辑电路还被配置为以与所述第一周期间隔交替的第二周期间隔从所述光学接收器读取对应于从入射光接收到的辐射的强度的信号。
9.一种验证在安全系统中使用的光学传感器的操作的方法,所述光学传感器具有安装在壳内的光学接收器,所述方法包括如下步骤:
将光源安装在所述壳内,其中,所述光源以足够使所述光学接收器饱和的强度发射辐射;
以第一周期间隔从所述光源发射所述辐射;
由所述光学接收器生成对应于检测到的所述辐射的强度的信号;
将检测到的所述辐射的强度与预定阈值进行比较;以及
响应于将所述辐射的强度与所述预定阈值进行比较来生成指示信号。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,所述光学接收器包括感光元件的阵列,并且针对所述感光元件中的每个执行以下步骤:由所述光学接收器生成对应于检测到的所述辐射的强度的所述信号,将检测到的所述辐射的强度与所述预定阈值进行比较,以及响应于将所述辐射的强度与所述预定阈值进行比较来生成所述指示信号。
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