[发明专利]一种基于双折射光纤环境的轴向应变测量方法

摘要

本发明涉及一种基于双折射光纤环境的轴向应变测量方法，在构建现有双折射光纤环境轴向应变测量装置的基础上，通过选择最佳监测点测量轴向应变，不仅保证了应变的顺利测量，而且提高了应变的灵敏度。相对于通过结构创新方法提高应变灵敏度，此方法简单易行。

主权项

一种基于双折射光纤环境的轴向应变测量方法，包括如下步骤：步骤1.采用光纤耦合器、双折射光纤、光源和光谱仪构建双折射光纤环境轴向应变测量装置，其中，双折射光纤的两端分别与光纤耦合器的两个输出臂相连接，光源与光纤耦合器的输入臂相连接，光谱仪的输入端与光纤耦合器的另一个输出臂相连接；步骤2.将双折射光纤粘贴在被测物体上，通过光谱仪测量其干涉光谱；步骤3.在被测物体未受任何应变的情况下，即双折射光纤未受任何应变的情况下，在干涉光谱上，寻找波长最长的一个光功率峰值点，作为最佳监测点；步骤4. 对被测物体增加轴向应变，获取应变值与对应最佳监测点波长的数据，并对该数据线性回归拟合一次曲线方程；步骤5. 对该被测物体施加轴向应变，通过光谱仪读取最佳监测点的波长大小，并根据步骤4拟合的一次曲线方程，得到该被测物体此时的轴向应变。