[发明专利]一种基于双折射光纤环境的轴向应变测量方法

权利要求书

1. 一种基于双折射光纤环境的轴向应变测量方法，包括如下步骤：

步骤1.采用光纤耦合器、双折射光纤、光源和光谱仪构建双折射光纤环境轴向应变测量装置，其中，双折射光纤的两端分别与光纤耦合器的两个输出臂相连接，光源与光纤耦合器的输入臂相连接，光谱仪的输入端与光纤耦合器的另一个输出臂相连接；

步骤2.将双折射光纤粘贴在被测物体上，通过光谱仪测量其干涉光谱；

步骤3.在被测物体未受任何应变的情况下，即双折射光纤未受任何应变的情况下，在干涉光谱上，寻找波长最长的一个光功率峰值点，作为最佳监测点；

步骤4. 对被测物体增加轴向应变，获取应变值与对应最佳监测点波长的数据，并对该数据线性回归拟合一次曲线方程；

步骤5. 对该被测物体施加轴向应变，通过光谱仪读取最佳监测点的波长大小，并根据步骤4拟合的一次曲线方程，得到该被测物体此时的轴向应变。

2. 根据权利要求1所述一种基于双折射光纤环境的轴向应变测量方法，其特征在于：所述测量方法中，如果需要针对另一被测物体进行轴向应变的测量时，首先判断该另一被测物体与所述被测物体是否属于同一被测物体，如果是，则直接操作步骤5；如果不是，则重复步骤2至步骤5。

3. 根据权利要求1所述一种基于双折射光纤环境的轴向应变测量方法，其特征在于：所述步骤3中，通过光谱仪测量所述干涉光谱，该干涉光谱的纵坐标为光功率，横坐标为波长。

4. 根据权利要求1所述一种基于双折射光纤环境的轴向应变测量方法，其特征在于：所述光纤耦合器为3db光纤耦合器。

5. 根据权利要求1所述一种基于双折射光纤环境的轴向应变测量方法，其特征在于：所述光源为宽带光源。

6. 根据权利要求1所述一种基于双折射光纤环境的轴向应变测量方法，其特征在于：所述步骤4中，对被测物体均匀增加轴向应变，获取应变值与对应最佳监测点波长的数据。