[发明专利]X射线荧光分析的α系数测定方法

摘要

本发明是关于一种X射线荧光分析的α系数测定方法，包括选取标准样品S，该标准样品中至少含有成份P与成份Q；制备n个P系列标准样品，制备m个Q系列标准样品，将上述P系列标准样品制备成玻璃熔片后，分别进行X射线荧光强度测量；通过公式K=(X^TX)^-1X^TC，计算得到K1、K2、K3和K4；通过公式α_p，q=(K1*K4-K2*K3)/(K1*K3+K2*K3)得到成份Q对成份P的α系数。上述X射线荧光分析的α系数测定方法可应用在测试水泥样品中。

主权项

一种X射线荧光分析的α系数测定方法，其特征在于，包括：选取标准样品S，该标准样品中至少含有成份P与成份Q；向(1‑y_p)质量份的标准样品S中加入y_p质量份的成份P的纯基准化学物质，制备n个P系列标准样品，n大于等于3，将上述P系列标准样品制备成玻璃熔片后，分别进行X射线荧光强度测量；得到各P系列标准样品中成份P的射线荧光强度，分别为I_pp1、I_pp2、…、I_ppn，所述各P系列标准样品中：加入的成份P的质量份为y_pp1、y_pp2、…、y_ppn，成份P的质量分数为C_pp1、C_pp2、…、C_ppn；令，$C=\left[\begin{array}{c}{C}_{\mathrm{pp}1}\\ C_{\mathrm{pp}2}\\ \·\\ \·\\ \·\\ C_{\mathrm{ppn}}\end{array}\right],$$K=\left[\begin{array}{c}K1\\ K2\end{array}\right],$$X=\left[\begin{array}{cc}{I}_{\mathrm{pp}1}& Y_{\mathrm{pp}1}*I_{\mathrm{pp}1}\\ I_{\mathrm{pp}2}& Y_{\mathrm{pp}2}*I_{\mathrm{pp}2}\\ \·& \·\\ \·& \·\\ \·& \·\\ I_{\mathrm{ppn}}& Y_{\mathrm{ppn}}*I_{\mathrm{ppn}}\end{array}\right],$通过公式K=(X^TX)^‑1X^TC，计算得到K1和K2；向质量份为(1‑y_q)的标准样品S中加入质量份为y_q的成份Q的纯基准化学物质，制备m个Q系列标准样品，m大于等于3，将上述Q系列标准样品制备成玻璃熔片后，分别进行X射线荧光强度测量；得到各Q系列标准样品中成份P的射线荧光强度，分别为I_pq1、I_pq2、…、I_pqm，所述各Q系列标准样品中：加入的成份Q的质量份为y_pq1、y_pq2、…、y_pqm，成份P的质量分数为C_pq1、C_pq2、…、C_pqm；令，$C^{,}=\left[\begin{array}{c}{C}_{\mathrm{pq}1}\\ C_{\mathrm{pq}2}\\ \·\\ \·\\ \·\\ C_{\mathrm{pqm}}\end{array}\right],$$K^{,}=\left[\begin{array}{c}K3\\ K4\end{array}\right],$$X^{,}=\left[\begin{array}{cc}{I}_{\mathrm{pq}1}& Y_{\mathrm{pq}1}*I_{\mathrm{pq}1}\\ I_{\mathrm{pq}2}& Y_{\mathrm{pq}2}*I_{\mathrm{pq}2}\\ \·& \·\\ \·& \·\\ \·& \·\\ I_{\mathrm{pqm}}& Y_{\mathrm{pqm}}*I_{\mathrm{pqm}}\end{array}\right],$通过公式K′=(X′^TX′)^‑1X′^TC′，计算得到K3和K4；则X射线荧光分析中成份Q对成份P的α系数α_p,q由下述公式计算得到：α_p,q=(K1*K4‑K2*K3)/(K1*K3+K2*K3)。