[发明专利]X射线荧光分析的α系数测定方法有效
| 申请号： | 201310036201.2 | 申请日： | 2013-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN103969273A | 公开（公告）日： | 2014-08-06 |
| 发明（设计）人： | 马振珠;刘玉兵;戴平;诸葛顺金;赵鹰立;闫冉;韩蔚 | 申请（专利权）人： | 中国建材检验认证集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人： | 王伟锋;刘铁生 |
| 地址： | 100024*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 射线 荧光 分析 系数 测定 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种X射线荧光分析技术，特别是涉及一种X射线荧光分析的α系数测定方法。
背景技术
目前，X射线荧光分析时所采用的α系数一般为理论α系数，或通过线性回归实验测定的经验校正系数，经验校正系数并没有明确的物理含义。具有明确物理意义的α系数实验测定仅局限于二元系统，主要用于与理论α系数的比较，一般不会应用于实际XRF分析工作中。理论α系数由于在计算过程中涉及的参数自身存在误差，从而校正效果受到一定限制。
发明内容
本发明的主要目的在于，提供一种X射线荧光分析的α系数测定方法，使其获得能够应用于X射线荧光分析中的α系数。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种X射线荧光分析的α系数测定方法，其特征在于，包括：选取标准样品S，该标准样品中至少含有成份P与成份Q；向(1-yp)质量份的标准样品S中加入yp质量份的成份P的纯基准化学物质，制备n个P系列标准样品，n大于等于3，将上述P系列标准样品制备成玻璃熔片后，分别进行X射线荧光强度测量；得到各P系列标准样品中成份P的射线荧光强度，分别为Ipp1、Ipp2、…、Ippn，所述各P系列标准样品中：加入的成份P的质量份为ypp1、ypp2、…、yppn，成份P的质量分数为Cpp1、Cpp2、…、Cppn；
令，
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