[发明专利]半导体封装件及其制法无效

专利信息
申请号: 201310021830.8 申请日: 2013-01-21
公开(公告)号: CN103915400A 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: 洪隆棠;林伟胜;叶孟宏 申请(专利权)人: 矽品精密工业股份有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L23/31;H01L21/60
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种半导体封装件及其制法,该半导体封装件,包括具有电性连接垫的承载件、设于该承载件上并具有电极垫的半导体组件、电性连接该电极垫与电性连接垫的导电组件、形成于该导电组件与该电极垫或电性连接垫之间的氟离子、以及形成于该承载件与导电组件上的封装胶体,且形成该电极垫或该电性连接垫的材质为铝材,以通过该氟离子于封装后形成氟化铝,而提高半导体封装件的抗腐蚀性。
搜索关键词: 半导体 封装 及其 制法
【主权项】:
一种半导体封装件,包括:承载件,其具有多个电性连接垫;半导体组件,其设于该承载件上,该半导体组件具有多个电极垫,且形成该电极垫或该电性连接垫的材质为铝材;多个导电组件,其电性连接该电极垫与该电性连接垫;氟离子,其形成于该导电组件与该电极垫之间、或该导电组件与该电性连接垫之间;以及封装胶体,其形成于该承载件与该些导电组件上。
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