[发明专利]一种用深槽隔离制造影像传感器的方法及影像传感器结构有效
申请号: | 201310012042.2 | 申请日: | 2013-01-14 |
公开(公告)号: | CN103066093A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | 李平 | 申请(专利权)人: | 陆伟 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 杨立 |
地址: | 200124 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及影像传感器制造领域,具体涉及一种用深槽隔离制造影像传感器的方法及影像传感器结构。包括将器件晶圆与逻辑晶圆进行键合;对键合后晶圆中的器件晶圆二氧化硅层进行深通孔局部刻蚀,形成器件晶圆深通孔;进行硅刻蚀直至露出器件晶圆顶层金属和逻辑晶圆顶层金属,形成键合层深通孔和沟槽;对刻蚀出的键合层深通孔和沟槽进行铜淀积,并对器件晶圆表面进行化学机械平坦化处理。通过深通孔局部刻蚀后直接进行硅刻蚀,去掉了现有技术中淀积氧化物层,以及随后进行的沟槽刻蚀步骤,简化了影像传感器的制造流程,从而减少了由于步骤繁杂导致的错误率,减少了工艺流程时间,减少了影像传感器的生产成本,并提高了影像传感器的生产效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 用深槽 隔离 制造 影像 传感器 方法 结构 | ||
【主权项】:
一种用深槽隔离制造影像传感器的方法,其特征是:包括以下步骤,步骤一,将器件晶圆与逻辑晶圆进行键合;步骤二,对键合后晶圆中的器件晶圆二氧化硅层进行深通孔局部刻蚀,形成器件晶圆深通孔;步骤三,对深通孔局部刻蚀后的器件晶圆二氧化硅层进行硅刻蚀直至露出器件晶圆顶层金属和逻辑晶圆顶层金属,形成键合层深通孔和沟槽;步骤四,对刻蚀出的键合层深通孔和沟槽进行铜淀积,并对器件晶圆表面进行化学机械平坦化处理。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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