[发明专利]一种测定WC-Co硬质合金中钴相结构的方法有效
| 申请号： | 201310004572.2 | 申请日： | 2013-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN103913475A | 公开（公告）日： | 2014-07-09 |
| 发明（设计）人： | 曾祺森;吴冲浒;聂洪波;冯炎建;肖满斗;肖伟;朱桂容;江嘉鹭;文晓 | 申请（专利权）人： | 厦门钨业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人： | 连耀忠 |
| 地址： | 361000 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测定WC-Co硬质合金中钴相结构的方法，包括抛光WC-Co硬质合金试样测试面的步骤、电解去除试样表层WC晶粒的步骤、清洁试样表面的步骤和用XRD测试WC-Co硬质合金试样中钴相的结构、晶粒大小和/或晶面间距。该方法是先利用电解方法除去WC-Co硬质合金试样表层WC晶粒，再对试样表面进行XRD分析，由于消除了试样表层WC相的影响，可以得到完全的钴相衍射图谱，在此基础上便能精确地测定钴相的相结构、晶粒大小和晶面间距等参数，具有工艺简便，方法可靠的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 wc co 硬质合金 中钴相 结构 方法 | ||
【主权项】：
一种测定WC‑Co硬质合金中钴相结构的方法，其特征在于：包括如下步骤：（1）抛光WC‑Co硬质合金试样测试面的步骤；（2）电解去除试样表层WC晶粒的步骤；该步骤是将步骤（1）制备的硬质合金试样作为阳极，以铜片作阴极，在电解液中进行电解，以去除硬质合金试样表层一定深度的WC晶粒；（3）清洁试样表面的步骤；该步骤是将步骤（2）中得到的试样浸入稀碱溶液超声清洗；（4）用XRD测试WC‑Co硬质合金试样中钴相的结构、晶粒大小和/或晶面间距。
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