[发明专利]X射线检查装置无效
| 申请号： | 201310004320.X | 申请日： | 2013-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN103226111A | 公开（公告）日： | 2013-07-31 |
| 发明（设计）人： | 细川好则 | 申请（专利权）人： | X射线精密有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 李照明;段承恩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供迅速且高精度、非破坏性计测被检查对象物中含金的形状和含量的X射线检查装置。因而提供一种X射线检查装置1，具备：向被检查对象物照射90keV以上的X射线的X射线发生器4；检测从被检查对象物透过的X射线的X射线检测器6、7；以及基于该X射线检测器检测到的X射线信号来计测被检查对象物中含金的形状和含量的演算部8,Au滤波器6和Pt滤波器7分别设置在X射线检测器和被检查对象物之间,X射线检测器4对从X射线发生器照射出、并从被检查对象物和Au滤波器透过来的X射线、以及从X射线发生器照射出、并从被检查对象物和Pt滤波器透过来的X射线分别进行检测，演算部8基于各X射线信号来计测被检查对象物中含有的Au的形状和含量。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检查 装置 | ||
【主权项】：
一种X射线检查装置，具备：向被检查对象物照射90keV以上的X射线的X射线发生器；检测从所述被检查对象物透过来的X射线的X射线检测器；以及，基于该X射线检测器检测到的X射线信号来计测所述被检查对象物中含有的金Au的形状和含量的演算部，所述X射线检查装置的特征在于，由Au形成的第1滤波器、和由Pt或原子序号比Pt低的材料形成的第2滤波器分别设置在所述X射线检测器与所述被检查对象物之间，所述X射线检测器，对从所述X射线发生器照射出、并从所述被检查对象物和所述第1滤波器透过来的X射线、以及从所述X射线发生器照射出、并从所述被检查对象物和所述第2滤波器透过来的X射线分别进行检测，所述演算部基于所述X射线检测器检测到的各X射线信号来计测所述被检查对象物中含有的Au的形状和含量。
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