[发明专利]串联四极型质量分析装置

摘要

在控制部（50）的处理条件参数存储部（51）设置表示碰撞池(31)内的CID气压和用于收集数据的驻留时间之间的对应关系的驻留时间算出表（51a）。在该表（51a），CID气压越高驻留时间越长。一旦指示实施MRM测定模式，控制部（50）就会根据此时的CID气压决定驻留时间，并以如下方式控制数据收集部（41），即：在该驻留时间期间，积算来自离子检测器（34）的检测信号并求出积算值。如果碰撞池(31)的CID气压较高，则离子的速度下降变得显著，离子强度的上升变得缓慢，但是如果驻留时间变长，则对积算值的缓慢的上升的影响会相对减轻，积算值的精度上升。由此，能够提高定量精度。

主权项

一种串联四极型质量分析装置，其特征在于，具备：前段四极质量过滤器，其在各种离子中将具有特定质荷比的离子选择为母离子；碰撞池，其通过使所述母离子与规定气体碰撞而使该离子解离；后段四极质量过滤器，其在由该解离而生成的各种子离子中选择具有特定质荷比的离子；以及检测部，其检测该被选择了的子离子，该串联四极型质量分析装置还具备：a)气体调整部，其以将所述碰撞池内的气压设为所期望的状态的方式调整供给至该碰撞池内的气体的供给压或供给流量；以及b)控制部，其在实施多重反应监测测定模式的测定时，根据由所述气体调整部设定的气体供给压、供给流量、或目标气压而使获取信号的驻留时间的长度改变，该信号是针对源自一种化合物的母离子和子离子的由所述检测部获得的信号。