[发明专利]串联四极型质量分析装置有效
申请号: | 201280077238.3 | 申请日: | 2012-11-22 |
公开(公告)号: | CN104813162A | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
发明(设计)人: | 上田学 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 梁海莲;余明伟 |
地址: | 日本国京都府*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 串联 四极型 质量 分析 装置 | ||
1.一种串联四极型质量分析装置,其特征在于,具备:前段四极质量过滤器,其在各种离子中将具有特定质荷比的离子选择为母离子;碰撞池,其通过使所述母离子与规定气体碰撞而使该离子解离;后段四极质量过滤器,其在由该解离而生成的各种子离子中选择具有特定质荷比的离子;以及检测部,其检测该被选择了的子离子,
该串联四极型质量分析装置还具备:
a)气体调整部,其以将所述碰撞池内的气压设为所期望的状态的方式调整供给至该碰撞池内的气体的供给压或供给流量;以及
b)控制部,其在实施多重反应监测测定模式的测定时,根据由所述气体调整部设定的气体供给压、供给流量、或目标气压而使获取信号的驻留时间的长度改变,该信号是针对源自一种化合物的母离子和子离子的由所述检测部获得的信号。
2.根据权利要求1所述的串联四极型质量分析装置,其特征在于,所述控制部在所述碰撞池内的气压较高的状态下,与不是这种状态下的情况相比,延长驻留时间。
3.一种串联四极型质量分析装置,其特征在于,具备:前段四极质量过滤器,其在各种离子中将具有特定质荷比的离子选择为母离子;碰撞池,其通过使所述母离子与规定气体碰撞而使该离子解离;后段四极质量过滤器,其在由该解离而生成的各种子离子中选择具有特定质荷比的离子;以及检测部,其检测该被选择了的子离子,
该串联四极型质量分析装置还具备:
a)气体调整部,其以将所述碰撞池内的气压设为所期望的状态的方式调整供给至该碰撞池内的气体的供给压或供给流量;以及
b)控制部,其在实施多重反应监测测定模式的测定时,根据由所述气体调整部设定的气体供给压、供给流量、或目标气压而使稳定时间的长度改变,该稳定时间是在获取了针对源自一种化合物的母离子和子离子的由所述检测部获得的信号后,为了进行母离子或子离子中的至少一方是不同的测定而改变了施加于前段和/或后段四极质量过滤器的电压时的电压稳定为止的充裕时间。
4.根据权利要求3所述的串联四极型质量分析装置,其特征在于,所述控制部在所述碰撞池内的气压较高的状态下,与不是这种状态下的情况相比,延长稳定时间。
5.一种串联四极型质量分析装置,其特征在于,具备:前段四极质量过滤器,其在各种离子中将具有特定质荷比的离子选择为母离子;碰撞池,其通过使所述母离子与规定气体碰撞而使该离子解离;后段四极质量过滤器,其在由该解离而生成的各种子离子中选择具有特定质荷比的离子;以及检测部,其检测该被选择了的子离子,
该串联四极型质量分析装置还具备:
a)模式设定部,其用于供用户设定想要实施的测定模式;
b)气体供给部,其将所述规定气体供给至所述碰撞池内;以及
c)控制部,其以根据由所述模式设定部设定的测定模式而让所述碰撞池内的CID气压改变的方式控制所述气体供给部。
6.根据权利要求5所述的串联四极型质量分析装置,其特征在于,所述控制部在被设定的测定模式是在前段四极质量过滤器进行质量扫描且在所述碰撞池内使离子解离的测定模式的情况下,与在前段四极质量过滤器不进行质量扫描的测定模式相比,降低碰撞池内的CID气压。
7.根据权利要求6所述的串联四极型质量分析装置,其特征在于,所述在前段四极质量过滤器进行质量扫描且在所述碰撞池内使离子解离的测定模式是指,母离子扫描测定模式、中性丢失扫描测定模式、以及不在后段四极质量过滤器实施根据质荷比的离子选择而仅在前段四极质量过滤器进行质量扫描的测定模式。
8.根据权利要求5所述的串联四极型质量分析装置,其特征在于,
作为能够由所述模式设定部选择的测定模式,在多重反应检测(MRM)测定模式中,至少准备以下两种模式,即:与检测灵敏度相比更重视测定速度的高速模式;以及与速度相比更重视检测灵敏度的高灵敏度模式,
所述控制部在被设定的测定模式是MRM测定模式中的高速模式的情况下,与高灵敏度模式相比,降低碰撞池内的CID气压。
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