[发明专利]检测多路径以及确定定位测量不确定度在审

专利信息
申请号: 201280076105.4 申请日: 2012-09-27
公开(公告)号: CN104798393A 公开(公告)日: 2015-07-22
发明(设计)人: I.斯奧米纳;张扬 申请(专利权)人: 瑞典爱立信有限公司
主分类号: H04W24/00 分类号: H04W24/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 杨美灵;张懿
地址: 瑞典斯*** 国省代码: 瑞典;SE
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摘要: 公开了用于基于定时测量与高准确的位置结果之间的残余偏差来确定定位测量的不确定度和/或多路径对定位测量的影响的技术。一种示例方法从收集(510)多个定时测量或距离测量或它们两者开始,每个测量对应于具有已知位置的至少一个锚节点天线。通过将所述测量与对应的参考位置进行比较来确定(520)对于每个测量的测量偏差。使用(530)所述测量偏差以估计对于一个或多个随后的定位测量的测量质量,和/或与一个或多个随后的定位估计相关联的不确定度,和/或多路径对一个或多个随后的定位测量或估计的影响。在一些实施例中,从所述测量偏差来计算协方差矩阵,以及所述协方差矩阵用于确定对于对应于所述锚节点天线中的特定一个锚节点天线的测量的统计信息或多路径影响。
搜索关键词: 检测 路径 以及 确定 定位 测量 不确定
【主权项】:
一种在无线通信网中的第一节点中用于在定位中使用的方法,其特征在于所述方法包括:收集(510)多个定时测量或距离测量或它们两者,每个测量对应于具有已知位置的至少一个锚节点天线;通过将所述测量与对应的参考位置进行比较来确定(520)对于每个测量的测量偏差;以及使用(530)所述测量偏差以用于以下中的一个或多个:估计对于一个或多个随后的定位测量的测量质量、估计与一个或多个随后的定位估计相关联的不确定度以及估计多路径对一个或多个随后的定位测量或估计的影响。
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