[发明专利]用于参数化传感器的方法和设备有效
| 申请号： | 201280048498.8 | 申请日： | 2012-10-02 |
| 公开（公告）号： | CN103857990A | 公开（公告）日： | 2014-06-11 |
| 发明（设计）人： | P·普里勒;M·保尔韦伯;R·费勒格尔 | 申请（专利权）人： | AVL里斯脱有限公司 |
| 主分类号： | G01D3/02 | 分类号： | G01D3/02;G01M15/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 张立国 |
| 地址： | 奥地利*** | 国省代码： | 奥地利;AT |
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| 摘要： | 在试验台环境中的传感器必须提前被参数化。这构成耗费的任务，该任务至今大都手动由试验台工程师实施。为了使传感器（54）的参数化变得容易而提出，通过合适的定位方法测定传感器（54）在试件（1）上的位置并且将所测定的位置与试件（1）的几何数据比较，由此可以导出传感器（54）在试件（1）上的位置并且通过在试件上的该位置，由传感器（54）物理测量的参量可以配置给传感器（54）。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 参数 传感器 方法 设备 | ||
【主权项】：
用于参数化传感器（54）的方法，所述传感器安装在试验台（2）中的试件（1）上，其特征在于：传感器（54）传输信息，由检测装置检测所述信息，并且由此通过定位方法测定传感器（54）在空间中的位置（54(x,y,z)），将所测定的传感器位置（54(x,y,z)）与试件（1）的几何数据进行比较并且通过该比较来确定传感器（54）在试件（1）上的位置并且接着以如下方式对传感器（54）进行参数化，即，基于所测定的在试件（1）上的位置（54(x,y,z)），把由传感器（54）物理测量的参量配置给被定位的传感器（54）。
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