[发明专利]用于参数化传感器的方法和设备

权利要求书

1.用于参数化传感器（54）的方法，所述传感器安装在试验台（2）中的试件（1）上，其特征在于：传感器（54）传输信息，由检测装置检测所述信息，并且由此通过定位方法测定传感器（54）在空间中的位置（54(x,y,z)），将所测定的传感器位置（54(x,y,z)）与试件（1）的几何数据进行比较并且通过该比较来确定传感器（54）在试件（1）上的位置并且接着以如下方式对传感器（54）进行参数化，即，基于所测定的在试件（1）上的位置（54(x,y,z)），把由传感器（54）物理测量的参量配置给被定位的传感器（54）。

2.按照权利要求1所述的方法，其特征在于：在所测定的位置（54(x,y,z)）或所述测定的物理参量中存在多义性的情况下，提供用于手动选择正确的位置或物理参量的建议。

3.按照权利要求1或2所述的方法，其特征在于：传感器（54）传输其传感器种类作为信息，并且从所述传感器种类得出配置给传感器（54）的物理参量。

4.按照权利要求1或2所述的方法，其特征在于：传感器（54）传输其传感器类型作为信息并且所述参数化包括将物理测量的参量和/或传感器类型配置给被定位的传感器（54）。

5.按照权利要求1或2所述的方法，其特征在于：传感器（54）传输单义的传感器标志作为信息，并且基于该传感器标志，把物理测量的参量和/或传感器类型和/或校准数据配置给被定位的传感器（54）。

6.用于参数化传感器（54）的设备，所述传感器安装在试验台（2）中的试件（1）上，其特征在于：设有检测装置，利用该检测装置能检测由传感器（54）传输的信息并且能将由传感器传输的该信息传输到定位单元（10）上，所述定位单元（10）由此通过定位方法测定传感器（54）在空间中的位置（54(x,y,z)）；设有参数化单元（3），在所述参数化单元中，能将所测定的传感器位置（54(x,y,z)）与试件（1）的几何数据进行比较，并且通过该比较能确定传感器（54）在试件（1）上的位置（54(x,y,z)）；并且接着通过参数化单元（3）以如下方式能对传感器（54）进行参数化，即，基于所确定的在试件（1）上的位置，能把由传感器（54）物理测量的参量配置给被定位的传感器（54）。

7.按照权利要求6所述的方法，其特征在于：定位单元（10）或参数化单元（3）构建成用于在所测定的位置（54(x,y,z)）或所测定的物理参量中存在多义性的情况下提供用于手动选择正确的位置或物理参量的建议。

8.按照权利要求6或7所述的方法，其特征在于：所述定位单元（10）或参数化单元（3）构建成用于测定由传感器（54）传输的传感器种类和由此测定配置给传感器（54）的物理参量并且将所述传感器种类和所述物理量配置给传感器（54）。

9.按照权利要求6或7所述的方法，其特征在于：所述定位单元（10）或参数化单元（3）构建成用于测定由传感器（54）传输的传感器类型和由此测定配置给传感器（54）的物理参量并且将所测定的物理参量和/或所述传感器类型配置给传感器（54）。

10.按照权利要求6或7所述的方法，其特征在于：所述定位单元（10）或参数化单元（3）构建成用于测定由传感器（54）传输的传感器标志和由此测定配置给传感器（54）的传感器类型和配置给传感器（54）的物理参量并且将所测定的传感器类型和/或所测定的物理参量和/或校准数据配置给传感器（54）。