[发明专利]基于光栅的相位对比X射线设备的X射线探测器和用于操作基于光栅的相位对比X射线设备的方法有效

专利信息
申请号: 201280043563.8 申请日: 2012-09-03
公开(公告)号: CN103814291B 公开(公告)日: 2016-11-23
发明(设计)人: M.拉迪克 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 熊雪梅
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种基于光栅的相位对比X射线设备的X射线探测器和一种用于操作基于光栅的相位对比X射线设备的方法。将探测器元件(3)的信号值组合成组信号值(6)。图像计算单元从这些组信号值(6)中计算出X射线辐射相位值。
搜索关键词: 基于 光栅 相位 对比 射线 设备 探测器 用于 操作 方法
【主权项】:
一种基于光栅的相位对比X射线设备的X射线探测器(1),其具有:‑探测器元件(3),用于记录属于X射线信号的信号值,其中,所述探测器元件以成面的方式布置在探测器平面(7)中,并且在所述探测器平面(7)中沿第一方向(A)提供第一空间分辨率以及沿与所述第一方向(A)正交的第二方向提供第二空间分辨率,‑组合元件(24),用于将属于至少两个探测器元件组之一的探测器元件(3)的信号值组合成组信号值(6),其中,属于每个探测器元件组的有沿着所述第一方向(A)的至少两个探测器元件(3),‑图像计算单元(27),用于计算X射线辐射相位值的空间分辨的图像,其中,所述图像计算单元从分别至少三个组信号值(6)中计算出X射线辐射相位值,‑编组部,其基于如下条件中的至少一个来确定属于一个探测器元件组的探测器元件(3):两个相邻探测器元件间隔和X射线信号的局部周期的比率、所述图像的图像分辨率、信号强度、用于建立所述图像的持续时间。
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