[发明专利]基于光栅的相位对比X射线设备的X射线探测器和用于操作基于光栅的相位对比X射线设备的方法有效
申请号: | 201280043563.8 | 申请日: | 2012-09-03 |
公开(公告)号: | CN103814291B | 公开(公告)日: | 2016-11-23 |
发明(设计)人: | M.拉迪克 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 熊雪梅 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 光栅 相位 对比 射线 设备 探测器 用于 操作 方法 | ||
1.一种基于光栅的相位对比X射线设备的X射线探测器(1),其具有:
-探测器元件(3),用于记录属于X射线信号的信号值,其中,所述探测器元件以成面的方式布置在探测器平面(7)中,并且在所述探测器平面(7)中沿第一方向(A)提供第一空间分辨率以及沿与所述第一方向(A)正交的第二方向(3)提供第二空间分辨率,
-组合元件(24),用于将属于至少两个探测器元件组之一的探测器元件(3)的信号值组合成组信号值(6),其中,属于每个探测器元件组的有沿着所述第一方向(A)的至少两个探测器元件(3),
-图像计算单元(27),用于计算X射线辐射相位值的空间分辨的图像,其中,所述图像计算单元从分别至少三个组信号值(6)中计算出X射线辐射相位值。
2.根据权利要求1所述的X射线探测器,其中,所述X射线探测器(1)包括相位光栅(23),该相位光栅布置在所述探测器平面(7)之前在X射线辐射的光路中并且具有沿着所述第一方向的周期。
3.根据权利要求2所述的X射线探测器,其中,所述组合元件(24)将探测器元件组的探测器元件(3)的信号值组合,这些探测器元件是基于至少一个条件:所述相位光栅(23)的光栅周期(23a)来编组的。
4.根据权利要求2或3所述的X射线探测器,其中,所述组合元件(24)将探测器元件组的探测器元件(3)的信号值组合,这些探测器元件具有与所述相位光栅(23)的光栅周期(23a)的一半相等的间隔。
5.根据上述权利要求中任一项所述的X射线探测器,其中,所述图像计算单元(27)为了计算所述X射线辐射相位值而将所述至少三个组信号值(6)与彼此间的相对间隔相关联,并且计算通过所述X射线辐射相位值描述的三角函数,该三角函数描述了所述组信号值与所述相对间隔的函数关系并且由此描述了所述X射线辐射相位值。
6.根据上述权利要求中任一项所述的X射线探测器,其中,所述图像计算单元(27)将所述空间分辨的图像计算为使得其具有沿着所述第一方向(A)的、比所述第一空间分辨率低的图像分辨率(9)。
7.根据上述权利要求中任一项所述的X射线探测器,其中,所述组合元件将探测器元件组的探测器元件(3)的信号值组合,其中,作为该探测器元件组沿着所述第一方向(A)的两个彼此最接近的探测器元件(3)的间隔被限定的探测器元件评估间隔(8)等于所述X射线信号的局部周期(4c)的整数多倍。
8.根据权利要求7所述的X射线探测器,其中,所述探测器元件评估间隔大于所述第一空间分辨率。
9.根据权利要求7或8所述的X射线探测器,其中,沿着所述第一方向的两个相邻探测器元件(3)的间隔等于所述X射线信号的局部周期(4c)的整的分数倍。
10.根据权利要求7至9中任一项所述的X射线探测器,其中,所述探测器元件评估间隔(8)等于所述X射线信号的局部周期(24c)。
11.根据上述权利要求中任一项所述的X射线探测器,其中,所述组合元件(24)将探测器元件(3)的信号值组合为使得相邻的探测器元件(3)属于不同的探测器元件组。
12.根据上述权利要求中任一项所述的X射线探测器,其中,所述组合元件(24)将探测器元件(3)的信号值求和。
13.根据上述权利要求中任一项所述的X射线探测器,其中,所述组合元件(24)仅将沿着所述第一方向(A)布置的探测器元件(3)的信号值组合。
14.根据上述权利要求中任一项所述的X射线探测器,其中,所述第一空间分辨率高于所述第二空间分辨率。
15.根据上述权利要求中任一项所述的X射线探测器,其中,所述第一空间分辨率能够分辨至10μm的特征、优选至1μm的特征。
16.根据上述权利要求中任一项所述的X射线探测器,进一步包括:编组部,其基于如下条件中的至少一个来确定属于一个探测器元件组的探测器元件(3)的数目:所述图像(9)的图像分辨率、信号强度、用于建立所述图像的持续时间。
17.根据上述权利要求中任一项所述的X射线探测器,其中,通过所述图像计算单元从单个测量中计算出所述X射线辐射相位值的空间分辨的图像。
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