[发明专利]用于电容性接触传感器的评估方法及评估装置有效
| 申请号： | 201280039519.X | 申请日： | 2012-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN103733519A | 公开（公告）日： | 2014-04-16 |
| 发明（设计）人： | 史蒂芬·伯格;霍尔格·斯特劳斯 | 申请（专利权）人： | 微晶片科技德国第二公司 |
| 主分类号： | H03K17/96 | 分类号： | H03K17/96 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 沈锦华 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于电容性接触传感器的评估方法，所述电容性接触传感器包括能够进行电容性耦合的至少一个发射电极(SE)及至少一个接收电极(EE)或至少一个传感器电极，其中·-在所述至少一个接收电极处或在所述至少一个传感器电极处分接测量信号，所述测量信号分别表示所述至少一个发射电极与所述至少一个接收电极之间的耦合电容(C2)的时间进程及所述传感器电极的电容性负载的时间进程，·-从所述测量信号形成参考信号，及·-当所述参考信号满足至少一个检测准则时，形成至少一个检测信号。另外，本发明提供一种用于电容性接触传感器的评估装置及一种包括根据本发明的评估装置的电手持式装置，其中所述评估装置可与所述电容性接触传感器的至少一个发射电极及至少一个接收电极或至少一个传感器电极耦合且经调适以执行根据本发明的评估方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电容 接触 传感器 评估 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于电容性接触传感器的评估方法，所述电容性接触传感器包括能够进行电容性耦合的至少一个发射电极(SE)及至少一个接收电极(EE)，其中在所述至少一个接收电极(EE)处分接测量信号(S1)，所述测量信号(S1)表示所述至少一个发射电极(SE)与所述至少一个接收电极(EE)之间的耦合电容的时间进程，从所述测量信号(S1)形成参考信号(SREF)，且当所述参考信号(SREF)满足至少一个检测准则时产生至少一个检测信号(S2)。
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