[发明专利]移动物体检测装置有效
申请号: | 201280032404.8 | 申请日: | 2012-07-02 |
公开(公告)号: | CN103703346A | 公开(公告)日: | 2014-04-02 |
发明(设计)人: | 车户纪博 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | G01D5/245 | 分类号: | G01D5/245 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 韩宏;陈松涛 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 移动物体检测装置包括:电流镜电路(43),其包括并联连接在电源(Vdd)与地之间的第一和第二晶体管(Tr1,Tr2),并且第一和第二晶体管的栅极连接到第一晶体管的接地侧端子;第一和第二磁阻元件(10a,10b),其具有引脚层,并且分别布置在第一和第二晶体管与地之间;恒压电路(42,75);电压输出电路(44),其具有分别布置在第一晶体管和第二晶体管与第一和第二磁阻元件之间的第三和第四晶体管(Tr3,Tr4),并且当恒压电路的输出施加到第三和第四晶体管的栅极时,该电压输出电路基于恒压电路的输出分别将恒定电压施加到第一和第二磁阻元件;以及第五晶体管(Tr5),布置在第二和第四晶体管(Tr2,Tr4)之间以根据第四晶体管的电源侧端子的电位来操作。 | ||
搜索关键词: | 移动 物体 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种移动物体检测装置,包括:电流镜电路(43),其包括并联连接在电源(Vdd)与地之间的第一晶体管和第二晶体管(Tr1,Tr2),所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极连接到所述第一晶体管的接地侧端子;第一磁阻元件(10a),其具有引脚层并位于所述第一晶体管与所述地之间;第二磁阻元件(10b),其具有引脚层并位于所述第二晶体管与所述地之间;恒压电路(42,75),其配置为输出恒定电压;电压输出电路(44),包括位于所述第一晶体管与所述第一磁阻元件之间的第三晶体管(Tr3)和位于所述第二晶体管与所述第二磁阻元件之间的第四晶体管(Tr4),所述电压输出电路(44)被配置为当所述恒压电路的输出电压被施加到所述第三晶体管和所述第四晶体管的栅极时,基于所述恒压电路的输出电压(V)将恒定电压分别施加到所述第一磁阻元件和所述第二磁阻元件;以及第五晶体管(Tr5),位于所述第二晶体管和所述第四晶体管(Tr2,Tr4)之间并且被配置为根据所述第四晶体管的电源侧端子的电位来操作,其中所述第一磁阻元件和所述第二磁阻元件被布置成使得所述引脚层的磁化方向彼此不同,所述第一磁阻元件和所述第二磁阻元件中的每一个的电阻随着从偏磁体(20)产生的、在所述引脚层的磁化方向上的磁通密度分量的变化而变化,在由所述第一磁阻元件和所述第二磁阻元件检测的磁通密度随着由磁性材料制成的检测目标的移动而变化的情况下,当所述第一磁阻元件的电阻变得大于所述第二磁阻元件的电阻时,从所述电源流到所述第一磁阻元件的第一电流(I1)变得小于从所述电源流到所述第二磁阻元件的第二电流(I2),所述第二晶体管根据所述第一电流的减少来减小所述第二电流(I2),并且所述第二磁阻元件的电阻变得小于所述第一磁阻元件的电阻,所述第五晶体管(Tr5)根据所述第二磁阻元件的电阻的减少来增大所述第二电流, 以减小从所述第五晶体管(Tr5)的电源侧端子与所述第二晶体管(Tr2)的接地侧端子之间的共用连接端子(53)输出的信号电平,并且在所述情况下,当所述第一磁阻元件的电阻变得小于所述第二磁阻元件的电阻时,所述第一电流变得大于所述第二电流(I2),所述第二晶体管根据所述第一电流的增大来增大所述第二电流,并且所述第二磁阻元件的电阻变得大于所述第一磁阻元件的电阻,所述第五晶体管(Tr5)根据所述第二磁阻元件电阻的增大来减少所述第二电流,以增大从所述第二晶体管与所述第五晶体管之间的所述共用连接端子(53)输出的所述信号电平。
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