[发明专利]移动物体检测装置

权利要求书

1.一种移动物体检测装置，包括：

电流镜电路(43)，其包括并联连接在电源(Vdd)与地之间的第一晶体管和第二晶体管(Tr1,Tr2)，所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极连接到所述第一晶体管的接地侧端子；

第一磁阻元件(10a)，其具有引脚层并位于所述第一晶体管与所述地之间；

第二磁阻元件(10b)，其具有引脚层并位于所述第二晶体管与所述地之间；

恒压电路(42，75)，其配置为输出恒定电压；

电压输出电路(44)，包括位于所述第一晶体管与所述第一磁阻元件之间的第三晶体管(Tr3)和位于所述第二晶体管与所述第二磁阻元件之间的第四晶体管(Tr4)，所述电压输出电路(44)被配置为当所述恒压电路的输出电压被施加到所述第三晶体管和所述第四晶体管的栅极时，基于所述恒压电路的输出电压(V)将恒定电压分别施加到所述第一磁阻元件和所述第二磁阻元件；以及

第五晶体管(Tr5)，位于所述第二晶体管和所述第四晶体管(Tr2,Tr4)之间并且被配置为根据所述第四晶体管的电源侧端子的电位来操作，其中

所述第一磁阻元件和所述第二磁阻元件被布置成使得所述引脚层的磁化方向彼此不同，

所述第一磁阻元件和所述第二磁阻元件中的每一个的电阻随着从偏磁体(20)产生的、在所述引脚层的磁化方向上的磁通密度分量的变化而变化，

在由所述第一磁阻元件和所述第二磁阻元件检测的磁通密度随着由磁性材料制成的检测目标的移动而变化的情况下，当所述第一磁阻元件的电阻变得大于所述第二磁阻元件的电阻时，从所述电源流到所述第一磁阻元件的第一电流(I1)变得小于从所述电源流到所述第二磁阻元件的第二电流(I2)，所述第二晶体管根据所述第一电流的减少来减小所述第二电流(I2)，并且所述第二磁阻元件的电阻变得小于所述第一磁阻元件的电阻，所述第五晶体管(Tr5)根据所述第二磁阻元件的电阻的减少来增大所述第二电流，以减小从所述第五晶体管(Tr5)的电源侧端子与所述第二晶体管(Tr2)的接地侧端子之间的共用连接端子(53)输出的信号电平，并且

在所述情况下，当所述第一磁阻元件的电阻变得小于所述第二磁阻元件的电阻时，所述第一电流变得大于所述第二电流(I2)，所述第二晶体管根据所述第一电流的增大来增大所述第二电流，并且所述第二磁阻元件的电阻变得大于所述第一磁阻元件的电阻，所述第五晶体管(Tr5)根据所述第二磁阻元件电阻的增大来减少所述第二电流，以增大从所述第二晶体管与所述第五晶体管之间的所述共用连接端子(53)输出的所述信号电平。

2.根据权利要求1所述的移动物体检测装置，其中

当所述检测目标移动(10)时，第一状态和第二状态反复交替，

在所述第一状态下，所述第一磁阻元件的电阻变得大于所述第二磁阻元件的电阻，而所述第二磁阻元件的电阻变得小于所述第一磁阻元件的电阻，并且

在所述第二状态下，所述第一磁阻元件的电阻变得小于所述第二磁阻元件的电阻，而所述第二磁阻元件的电阻变得大于所述第一磁阻元件的电阻。

3.根据权利要求2所述的移动物体检测装置，其中

当所述检测目标(10)移动时，由所述偏磁体(20)产生的所述磁体密度为零的零磁通密度部分(A)反复穿过所述第一磁阻元件和所述第二磁阻元件，

以使得所述第一状态和所述第二状态反复交替。

4.根据权利要求1-3中的任一项所述的移动物体检测装置，还包括：

可变电阻元件(11c)，具有可控电阻并且并联连接到所述第三晶体管(Tr3)与所述地之间的所述第一磁阻元件(10a)，以及

控制电路(70)，配置为根据从所述第二晶体管和所述第五晶体管(Tr2，Tr5)之间的所述共用连接端子(53)输出的信号来控制所述可变电阻元件(11c)的电阻，使得从所述电源流到所述第一晶体管和所述第三晶体管(Tr1，Tr3)的电流(I1)的变化相对于由所述第一磁阻元件检测的磁通密度变化表现出滞后。