[发明专利]用于辅助在技术系统中引导的故障查找的方法和诊断系统

摘要

本发明涉及用于辅助在技术系统中引导的故障查找的方法，具有下列步骤检测在该技术系统上的观察组；基于观察组获知技术系统的可能损坏的部件组以及技术系统的可能要实施的试验组；获知可能的部件故障组，其与观察组是一致的；基于可能的部件故障组，针对技术系统的可能要实施的试验组中的每一个试验的每个可能的特征表现组合，获知技术系统的可能损坏的部件组的元件数量的绝对减少；基于所获知的每个试验的绝对减少，通过确定技术系统的可能损坏的部件组的元件数量的平均待预期的绝对减少，计算可能要实施的试验组的第一优先级；针对技术系统的可能要实施的试验组中的每一个试验的每个可能的特征表现组合，获知技术系统的可能的部件故障组的元件数量的绝对减少；基于所获知的每个试验的绝对减少，通过确定技术系统的可能的部件故障组的元件数量的平均待预期的绝对减少，计算可能要实施的试验组的第二优先级；并且基于第一优先级和第二优先级，建立可能要实施的试验的优先级列表。

主权项

用于辅助在一技术系统中引导的故障查找的方法，具有下列步骤：检测在所述技术系统上的观察组；基于所述观察组，获知所述技术系统的可能损坏的部件（MDK）的组以及所述技术系统的可能要实施的试验（NT）的组；获知可能的部件故障（KKF）的组，其与所述观察组是一致的；获知所述技术系统的可能损坏的部件（MDK）的组的元件数量的各第一绝对减少（r），所述第一绝对减少是在确定可能的部件故障（KKF）的组时通过考虑所述技术系统的可能要实施的试验（NT）的组中的每个试验的每个可能的特征表现组合（KMK）来获得的；基于所获知的每个试验的第一绝对减少（r），通过确定所述技术系统的可能损坏的部件（MDK）的组的元件数量的平均待预期的绝对减少（rg），计算可能要实施的试验（NT）的组的第一优先级（rank）；获知所述技术系统的可能的部件故障（KKF）的组的元件数量的各第二绝对减少（rKKF），所述第二绝对减少是通过考虑所述技术系统的可能要实施的试验（NT）的组中的每个试验的每个可能的特征表现组合（KMK）来获得的；基于所获知的每个试验的第二绝对减少（rKKF），通过确定所述技术系统的可能的部件故障（KKF）的组的元件数量的平均待预期的绝对减少（rgKKF），计算可能要实施的试验组的第二优先级（rankKKF）；并且基于所述第一优先级和所述第二优先级（rank, rankKKF），建立可能要实施的试验的优先级列表。