[发明专利]用于辅助在技术系统中引导的故障查找的方法和诊断系统

权利要求书

1. 用于辅助在一技术系统中引导的故障查找的方法，具有下列步骤：

检测在所述技术系统上的观察组；

基于所述观察组，获知所述技术系统的可能损坏的部件（MDK）的组以及所述技术系统的可能要实施的试验（NT）的组；

获知可能的部件故障（KKF）的组，其与所述观察组是一致的；

获知所述技术系统的可能损坏的部件（MDK）的组的元件数量的各第一绝对减少（r），所述第一绝对减少是在确定可能的部件故障（KKF）的组时通过考虑所述技术系统的可能要实施的试验（NT）的组中的每个试验的每个可能的特征表现组合（KMK）来获得的；

基于所获知的每个试验的第一绝对减少（r），通过确定所述技术系统的可能损坏的部件（MDK）的组的元件数量的平均待预期的绝对减少（rg），计算可能要实施的试验（NT）的组的第一优先级（rank）；

获知所述技术系统的可能的部件故障（KKF）的组的元件数量的各第二绝对减少（r_KKF），所述第二绝对减少是通过考虑所述技术系统的可能要实施的试验（NT）的组中的每个试验的每个可能的特征表现组合（KMK）来获得的；

基于所获知的每个试验的第二绝对减少（r_KKF），通过确定所述技术系统的可能的部件故障（KKF）的组的元件数量的平均待预期的绝对减少（rg_KKF），计算可能要实施的试验组的第二优先级（rank_KKF）；并且

基于所述第一优先级和所述第二优先级（rank, rank_KKF），建立可能要实施的试验的优先级列表。

2. 按照权利要求1所述的方法，还具有下列步骤：

获知针对所述技术系统重要的部件、部件故障和试验；并且

将所获知的重要的部件故障与症状以及所获知的部件进行配对。

3. 按照权利要求1和2之一所述的方法，其特征在于，所述第一优先级和/或所述第二优先级（rank, rank_KKF）的计算还基于用于实施可能要实施的试验中的每个试验的耗费来进行。

4. 按照权利要求1至3之一所述的方法，还具有下列步骤： 

通过使用者从可能损坏的部件（MDK）的组中选出要试验的部件（K），

针对所述技术系统的可能要实施的试验组中的每个试验的每个可能的特征表现组合（KMK_K），获知所述技术系统的所选出的要试验的部件（K）的可能的部件故障组的元件数量的各第三绝对减少；

通过确定所述技术系统的所选出的要试验的部件（K）的可能的部件故障（KKF_K）的组的元件数量的平均待预期的绝对减少，计算可能要实施的试验组的第三优先级（rank_K）；并且 

基于所述第三优先级（rank_K），针对被选出的要试验的部件（K），建立可能要实施的试验的优先级列表。

5. 用于辅助在一技术系统中进行的故障查找的诊断系统（60），具有：

一检测装置（61），其设计用于检测在所述技术系统上的观察组，并且基于所述观察组获知所述技术系统的可能损坏的部件组以及所述技术系统的可能要实施的试验组；

一获知装置（62），其设计用于获知与所述观察组一致的可能的部件故障组；

一计算装置（63），其设计用于获知所述技术系统的可能损坏的部件组的元件数量的各第一绝对减少，所述第一绝对减少是在确定可能的部件故障组时通过考虑所述技术系统的可能要实施的试验组中的每个试验的每个可能的特征表现组合来获得的；基于所获知的每个试验的第一绝对减少，通过确定所述技术系统的可能损坏的部件组的元件数量的平均待预期的绝对减少，计算可能要实施的试验组的第一优先级；获知所述技术系统的可能的部件故障组的元件数量的各第二绝对减少，所述第二绝对减少是通过考虑所述技术系统的可能要实施的试验组中的每个试验的每个可能的特征表现组合来获得的；并且基于所获知的每个试验的第二绝对减少，通过确定所述技术系统的可能的部件故障组的元件数量的平均待预期的绝对减少，计算可能要实施的试验组的第二优先级；以及

一输出装置（64），其设计用于基于所述第一和第二优先级，建立并且输出可能要实施的试验的优先级列表。

6. 按照权利要求5所述的诊断系统（60），还具有：

一检测模块，其设计用于检测针对所述技术系统重要的部件、部件故障和试验，将检测到的重要的部件故障与症状以及检测到的重要的部件进行配对，并且将重要的试验的可能的特征表现与可能的症状以及重要的部件进行配对，并且所述诊断系统还设计用于，提供重要的部件、部件故障、试验和配对关系用于所述计算装置（63）。