[实用新型]芯片测试机有效
| 申请号： | 201220733132.1 | 申请日： | 2012-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN203069739U | 公开（公告）日： | 2013-07-17 |
| 发明（设计）人： | 陈石矶 | 申请（专利权）人： | 标准科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 梁爱荣 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型是芯片测试机，包括：多个托盘，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面；多个放置槽，形成于每该托盘的上表面，并于每该放置槽内具有一贯穿该托盘的第一测试孔；多个基板，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面，每该基板配置于每该托盘下方，在每该基板上具有多个与该第一测试孔相对应的第二测试孔；一探针座，配置于该基板下方，具有多个测试区，每该测试区中具有多个朝上的探针，该些探针是相对应于该基板的该第二测试孔；及一检测器，与该探针座电性连接；其中每该托盘之间能相互组合及拆卸，每该基板之间能相互组合及拆卸，该探针座则对应于其中一个该托盘及该基板。本实用新型整体作业时间更加快且连续，减少制程的工时。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 | ||
【主权项】：
一种芯片测试机，其特征在于包括：多个托盘，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面；多个放置槽，形成于每该托盘的上表面，并于每该放置槽内具有一贯穿该托盘的第一测试孔；多个基板，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面，每该基板配置于每该托盘下方，在每该基板上具有多个与该第一测试孔相对应的第二测试孔；一探针座，配置于该基板下方，具有多个测试区，每该测试区中具有多个朝上的探针，该这些探针是相对应于该基板的该第二测试孔；及一检测器，与该探针座电性连接；其中每该托盘之间能相互组合及拆卸，每该基板之间能相互组合及拆卸，该探针座则对应于其中一个该托盘及该基板。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于标准科技股份有限公司，未经标准科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201220733132.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
