[实用新型]全面测试系统有效

专利信息
申请号: 201220677551.8 申请日: 2012-12-10
公开(公告)号: CN203135886U 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 汪翔 申请(专利权)人: 上海宝景信息技术发展有限公司
主分类号: H04B10/075 分类号: H04B10/075
代理公司: 上海元一成知识产权代理事务所(普通合伙) 31268 代理人: 赵青
地址: 200940 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及全面测试系统,包括耦合器,分别与中心局光线路终端以及最终用户光网络终端连接;光电探测器组,所述光电探测器组与所述耦合器连接;信号处理电路,所述信号处理电路与所述光电探测器组连接。本实用新型全面测试系统由于从通讯线路中分出10%的信号对于通讯线路的影响更小,光信号经过仪表后的插入损耗更小;其次,由于采用了双光电探测器,其代替了分路器+带通滤波器+检测器的共同作用,大大简化了仪表内部的光路设计,从一定程度上降低了成本。
搜索关键词: 全面 测试 系统
【主权项】:
全面测试系统,其特征在于,包括: 耦合器,分别与中心局光线路终端以及最终用户光网络终端连接; 光电探测器组,所述光电探测器组与所述耦合器连接; 信号处理电路,所述信号处理电路与所述光电探测器组连接。
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