[实用新型]全面测试系统有效
| 申请号： | 201220677551.8 | 申请日： | 2012-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN203135886U | 公开（公告）日： | 2013-08-14 |
| 发明（设计）人： | 汪翔 | 申请（专利权）人： | 上海宝景信息技术发展有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/075 | 分类号： | H04B10/075 |
| 代理公司： | 上海元一成知识产权代理事务所(普通合伙) 31268 | 代理人： | 赵青 |
| 地址： | 200940 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 全面 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.全面测试系统，其特征在于，包括：
耦合器，分别与中心局光线路终端以及最终用户光网络终端连接；
光电探测器组，所述光电探测器组与所述耦合器连接；
信号处理电路，所述信号处理电路与所述光电探测器组连接。
2.根据权利要求1所述的全面测试系统，其特征在于：所述光电探测器组包括：相互独立设置的光电探测器和双光电探测器。
3.根据权利要求1或2所述的全面测试系统，其特征在于：所述信号处理电路包括：相互耦合连接的放大电路、峰值保持电路、模/数转换电路、处理器件。
4.根据权利要求3所述的全面测试系统，其特征在于：所述处理器件与显示设备连接。
5.根据权利要求3所述的全面测试系统，其特征在于：所述处理器件为MCU。
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