[实用新型]激光光束分析仪校准系统有效
| 申请号： | 201220642839.1 | 申请日： | 2012-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN202938789U | 公开（公告）日： | 2013-05-15 |
| 发明（设计）人： | 王艳萍;马冲 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 韩国胜 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型属于仪器校准技术领域，公开了一种激光光束分析仪校准系统,包括激光器、平行光场产生装置、衰减器、具有标准孔径的光阑以及被校激光光束分析仪等，构造的平行光场，经过标准孔径的光阑形成标准束宽的平顶光束，被校激光光束分析仪测量该平顶光束的束宽，比较测量值和光束宽度标准值，实现激光光束分析仪的校准。该系统有效可行，准确稳定，操作简便，解决了激光光束分析仪光束宽度量值的溯源问题，并大大提高了校准精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 光束 分析 校准 系统 | ||
【主权项】：
一种激光光束分析仪校准系统，其特征在于，包括激光器、平行光场产生装置、衰减器、具有标准孔径的光阑以及被校激光光束分析仪；所述平行光场产生装置用于将所述激光器发出的激光束整形成平行光束场；所述衰减器紧贴在所述光阑位于入射光一侧的端面上，用于调节入射到所述光阑上的平行光束的强度，以及减少背景辐射对测量结果的影响；所述具有标准孔径的光阑紧贴在所述被校激光光束分析仪探测器的传感面上，用于将入射的平行光束整形成标准束宽的平顶光束；所述被校激光光束分析仪用于测量所述标准束宽的平顶光束。
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