[实用新型]一种结电容测试装置有效
| 申请号： | 201220591686.2 | 申请日： | 2012-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN203084083U | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 佘超群;朱阳军;陆江;成星;高振鹏 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种结电容测试装置，所述装置包括：测试板和固定夹具；所述测试板的测试面有五个金属突起，各个金属突起对应连接34毫米半桥连接功率器件的一个电极，并且各个金属突起对应连接的电极之间互不导通，所述五个金属突起的底部与结电容测试电路相连；所述固定夹具用于将所述34毫米半桥连接功率器件与所述测试板的测试面压紧。可以看出，该技术方案不需要使用焊线或者绕线的方法向电极处引线即可实现对34毫米半桥连接功率器件的结电容参数的测量，以便于操作人员更加简单、并且安全性更高的测量该器件的结电容参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电容 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种结电容测试装置，其特征在于，所述装置包括：测试板和固定夹具；所述测试板的测试面有五个金属突起，各个金属突起对应连接34毫米半桥连接功率器件的一个电极，并且各个金属突起对应连接的电极之间互不导通，所述五个金属突起的底部与结电容测试电路相连；所述固定夹具用于将所述34毫米半桥连接功率器件与所述测试板的测试面压紧。
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