[实用新型]一种结电容测试装置

权利要求书

1.一种结电容测试装置，其特征在于，所述装置包括：测试板和固定夹具；

所述测试板的测试面有五个金属突起，各个金属突起对应连接34毫米半桥连接功率器件的一个电极，并且各个金属突起对应连接的电极之间互不导通，所述五个金属突起的底部与结电容测试电路相连；

所述固定夹具用于将所述34毫米半桥连接功率器件与所述测试板的测试面压紧。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述五个金属突起分别为第一、第二、第三、第四和第五测试点；第一、第二和第三测试点位于一条直线上并依次相邻，所述第一、第二和第三测试点中相邻测试点之间的距离为23毫米，第四测试点和第五测试点关于所述直线对称，所述第三测试点与所述第四和第五测试点所在直线的垂直距离为17毫米，所述第四测试点和第五测试点之间的距离为26毫米。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述五个金属突起分别为第一、第二、第三、第四和第五测试点；所述第一和第二测试点之间的距离为46毫米，所述第三、第四和第五测试点位于一条直线上并依次相邻，所述第三测试点和第五测试点关于所述第一和第二测试点所在的直线对称，所述第三测试点与第五测试点之间的距离为26毫米，所述第四测试点与所述第三测试点之间的距离为4.5毫米，所述第二测试点与所述第三、第四和第五测试点所在直线的垂直距离为17毫米，所述第四测试点与所述器件对应连接的电极和所述第一测试点与所述器件对应连接的电极之间不导通。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述五个金属突起分别为第一、第二、第三、第四和第五测试点；所述第一和第二测试点之间的距离为23毫米，所述第三、第四和第五测试点位于一条直线上并依次相邻，所述第三测试点和第五测试点关于所述第一和第二测试点所在的直线对称，所述第三测试点与第五测试点之间的距离为26毫米，所述第四测试点与所述第五测试点之间的距离为4.5毫米，所述第二测试点与所述第三、第四和第五测试点所在直线的垂直距离为17毫米，所述第四测试点与所述器件对应连接的电极和所述第一测试点与所述器件对应连接的电极之间不导通。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述五个金属突起分别为第一、第二、第三、第四和第五测试点；所述第二、第三、第四和第五测试点位于一条直线上并依次相邻，所述第二测试点与第三测试点之间的距离为4.5毫米，所述第三测试点与所述第四测试点之间的距离为17毫米，所述第四测试点与第五测试点之间的距离为4.5毫米，所述第一测试点与所述第三、第四和第五测试点所在直线的垂直距离为17毫米。

6.根据权利要求1至5任意一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：底部为所述测试板的测试盒体，所述测试盒体用于放置34毫米半桥连接功率器件；

所述固定夹具为所述测试盒体的盒体盖。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：包含所述测试盒体的外部模块。

8.根据权利要求1至5任意一项所述的装置，其特征在于，所述34毫米半桥连接功率器件包括第一IGBT和第二IGBT；

所述结电容测试电路包括：第一、第二、第三和第四开关、旁路电阻、偏置电感以及旁路电容；

直流电源连接节点与旁路电容的第一端和高电平测试连接节点相连；低电平测试连接节点与旁路电阻的第一端相连；所述偏置电感的第一端与地电平相连；

所述第一开关置于第一位时，直流电源连接节点与第一IGBT的漏极相连，所述第一开关置于第二位时，直流电源连接节点与第二IGBT的漏极相连；

所述第二开关置于第一位时，所述低电平测试连接节点与第一IGBT的栅极相连，所述第二开关置于第二位时，所述低电平测试连接节点与第二IGBT的栅极相连；

所述第三开关置于第一位时，所述旁路电阻的第二端与第一IGBT的源极相连，所述第三开关置于第二位时，所述旁路电阻的第二端与第二IGBT的源极相连；

所述第四开关置于第一位时，所述旁路电阻的第二端与旁路电容的第二端以及偏置电感的第二端相连；

所述第四开关置于第二位时，所述旁路电阻的第二端与地电平相连；

所述第四开关置于第三位时，所述旁路电阻的第二端与所述低电平测试连接节点相连。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括设置开关组，所述设置开关组用于分别控制所述第一、第二、第三和第四开关。