[实用新型]一种SMD元器件测试机构有效

专利信息
申请号: 201220418507.5 申请日: 2012-08-22
公开(公告)号: CN202748422U 公开(公告)日: 2013-02-20
发明(设计)人: 冯白华;贾延蝶;王振波;黄宏涛 申请(专利权)人: 深圳市三一联光自动化设备有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 深圳市国科知识产权代理事务所(普通合伙) 44296 代理人: 陈永辉
地址: 518000 广东省深圳市宝安区西*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种SMD元器件测试机构,涉及SMD测试装置技术领域;它包括一固定座,该固定座由条状的第一固定座和设在第一固定座一端的下方的第二固定座组成,所述第二固定座下端位置通过一转轴转动连接有一摆动板,该摆动板的另一端固定有一探针固定架,所述探针固定架上设有探针,所述摆动板上还设有一可驱动摆动板上下摆动的驱动装置以及一复位装置;本实用新型的有益效果是:本实用新型的测试装置的结构简单、控制方便,只需要驱动装置控制摆动板上下运动即可,因此其反应时间也更快,能明显的提高SMD元器件的测试效率,另外,本实用新型的成本低,测试性能也更为稳定。
搜索关键词: 一种 smd 元器件 测试 机构
【主权项】:
一种SMD元器件测试机构,它包括一固定座,该固定座由条状的第一固定座和设在第一固定座一端的下方的第二固定座组成,其特征在于:所述第二固定座下端位置通过一转轴转动连接有一摆动板,该摆动板的另一端固定有一探针固定架,所述探针固定架上设有探针,所述摆动板上还设有一可驱动摆动板上下摆动的驱动装置以及一复位装置。
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