[实用新型]一种SMD元器件测试机构

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及一种测试装置，更具体的说，本实用新型涉及一种针对SMD元器件进行测试的测试机构。

【背景技术】

在电子线路板生产的初级阶段，过孔装配完全由人工来完成，首批自动化机器推出后，它们可放置一些简单的引脚元件，但是复杂的元件仍需要手工放置方可进行波峰焊。表面贴装元件在大约二十年前推出，并就此开创了一个新纪元，从无源元件到有源元件和集成电路，最终都变成了表面贴装器件(SMD)并可通过拾放设备进行装配。SMD是Surface Mounted Devices的缩写，它是SMT中元器件中的一种。

SMD元器件都需要进行电性测试，现有的SMD元器件的测试方法一般为测试探针固定，需要测试的SMD元器件从上往下去接触SMD元器件测试装置的测试探针，这种测试装置的结构比较复杂，成本也就较高，并且测试的性能不是很稳定，所以测试效率比较低，仍然有待改进。

【实用新型内容】

本实用新型的目的在于有效克服上述技术的不足，提供一种结构简单、控制方便、测试性能稳定的SMD元器件的测试机构，该测试机构的反应时间快，提高了SMD元器件的测试效率。

本实用新型的技术方案是这样实现的：它包括一固定座，该固定座由条状的第一固定座和设在第一固定座一端的下方的第二固定座组成，其改进之处在于：所述第二固定座下端位置通过一转轴转动连接有一摆动板，该摆动板的另一端固定有一探针固定架，所述探针固定架上设有探针，所述摆动板上还设有一可驱动摆动板上下摆动的驱动装置以及一复位装置；

上述结构中，所述驱动装置为固定在第一固定座下方的电磁铁或气缸其中任意一种；

上述结构中，所述驱动装置为气缸时，该气缸的气缸杆固定连接在摆动板上；

上述结构中，所述探针顶部设有第一探针护套，该第一探针护套固定在第一固定座上，且第一探针护套顶部设有用于穿过探针的通孔；所述第一探针护套上还固定有第二探针护套，第二探针护套上设有孔洞，上述探针贯穿于第二探针护套上的孔洞；

上述结构中，所述复位装置为复位弹簧，该复位弹簧的一端固定在摆动板上，另一端固定于一限位板上，该限位板为倒置的L形，具有一短边与一长边，所述复位弹簧的另一端即固定于倒置L形的限位板的短边上，且限位板的短边固定在第一固定座下方，该倒置L形的限位板的长边上设有条状通孔，所述摆动板穿过限位板的条状通孔；

上述结构中，所述弹簧中部还设有一限位柱，该限位柱的一端固定在上述倒置L形的限位板的短边上，限位柱的另一端穿过于设在摆动板上的通孔。

本实用新型的有益效果在于：本实用新型的测试装置包括一固定座，固定座由条状的第一固定座和设在第一固定座一端的下方的第二固定座组成，第二固定座下端位置通过一转轴转动连接有一摆动板，摆动板的另一端固定有一探针固定架，该探针固定架上设有探针，摆动板上还设有一可驱动摆动板上下摆动的驱动装置以及一复位装置，通过此种结构，本实用新型可实现SMD元器件的测试，SMD元器件在需要测试时，则置于探针上方，驱动装置可驱动摆动板向上运动，以带动测试的探针接触SMD元器件，完成测试过程，测试完成后，复位装置即可将摆动板复位，从而完成一个测试周期，此种SMD元器件测试装置的结构简单、控制方便，只需要驱动装置控制摆动板上下运动即可，因此其反应时间也更快，能明显的提高SMD元器件的测试效率，另外，本实用新型的成本低，测试性能也更为稳定。

【附图说明】

图1为本实用新型的主视图；

图2为本实用新型的立体示意图。

【具体实施方式】

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的描述。

参照图1、图2所示，本实用新型揭示了一种SMD元器件测试机构，该测试机构包括一固定座10，固定座10由长方体形的第一固定座101和设在第一固定座101一端的下方的第二固定座102组成，在本实施例中，第二固定座102垂直于第一固定座101，所述第二固定座102下端位置通过一转轴20转动连接有一摆动板30，该摆动板30的另一端固定有一探针固定架40，探针固定架40上固定有探针401，在本实施例中，探针固定架40上固定有四条探针401，在进行测试时，也可根据实际情况自行增减探针401的数量。探针401顶部设有第一探针护套50，该第一探针护套50固定在第一固定座101上，且第一探针护套50顶部设有用于穿过探针的通孔；第一探针护套50上还固定有第二探针护套60，第二探针护套60上设有孔洞，上述探针401贯穿于第二探针护套60上的孔洞。