[实用新型]OLED光学测量机具有效
申请号: | 201220405631.8 | 申请日: | 2012-08-16 |
公开(公告)号: | CN202793740U | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | 余章凯 | 申请(专利权)人: | 光达检测科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京汇智英财专利代理事务所(普通合伙) 11301 | 代理人: | 陈践实 |
地址: | 中国台湾台北市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种OLED光学测量机具,包含:一个测量机台,其包含一个上方测量空间及一个下方机件区。该上方测量空间的底面配置有数个测量区,各测量区配置有:一个OLED测试治具,该OLED测试治具主要是位在四边的四个脚架及由四个脚架所支撑的测试平台,该测试平台上可用于放置OLED,以及该OLED测试治具底部尚包含一个底面,该底面用于将该OLED测试治具放置于该上方测量空间的底面;一个光学测量仪器,用于测量该OLED的光学特性,该光学测量仪器位在该上方测量空间的上方,用于接收来自该OLED的光以测量OLED特性;一三维空间调整座,位在该光学测量仪器的上方并将该光学测量仪器夹持住,可令该光学测量仪器进行三轴的调整。 | ||
搜索关键词: | oled 光学 测量 机具 | ||
【主权项】:
一种OLED光学测量机具,其特征在于,包含:一台测量机台,包含一个上方测量空间及一个下方机件区,该上方测量空间的底面配置有数个测量区,各测量区配置有:至少一个OLED测试治具,该OLED测试治具包括位于四边的四个脚架及由四个脚架所支撑的测试平台,该测试平台供放置OLED,以及该OLED测试治具底部尚包含一个底面,该底面用于将该OLED测试治具放置于该上方测量空间的底面;其中该OLED测试治具尚包含:数个用于给放置于该测试平台上的OLED施加电流的探针,该探针设于OLED测试治具的底面,各该探针的探针头朝向该测试平台,该测试平台对应各该探针的位置设有探针孔洞,使各该探针头伸出该探针孔洞,而与置于该测试平台上的OLED相接触;一个用于接收来自该OLED的光以测量OLED光学特性的光学测量仪器,该光学测量仪器位于该上方测量空间的上方;以及一个三维空间调整座,位于该光学测量仪器的上方并将该光学测量仪器夹持住,该三维空间调整座能够调整该光学测量仪器在三个维度方向上的位置。
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