[实用新型]OLED光学测量机具

说明书

技术领域

本实用新型有关于OLED光学测量，尤其是一种OLED光学测量机具。 

背景技术

以现有的技术而言，对于OLED检测目前皆是使用自动光学检测(Automated Optical Inspection, AOI)系统，此检测技术已被大量的应用于工业检测之中。因为如此，此检测技术也越来越先进，在价格上也越来越普及。且随着科技的进步，电脑处理的运算速度越来越快速，使得运用此技术的仪器在检测操作上也变得越来越快速、准确。 

而自动光学检测系统由摄影机(Charge Coupled Device, CCD)、影像撷取卡(Frame Grabber)、光源与光学镜头系统、运动控制机构、电脑、信号输入/出装置等元件组成，而目前在相关OLED产业的检测上皆是以此技术检测，只是在检测物治具及机台的设计上皆有所不同，因此对于整体使用上的便利性也有所不同，如治具及测试片的安装、以及机台的稳定性及准确性、测量机构的对位及如何同时测试多组测试片等等……。上述这些问题都是目前对于OLED的检测上需要改进的。

因此，本实用新型的发明人亟需构思一种新技术以改善其问题。

实用新型内容

所以本实用新型的目的为解决上述现有技术上的问题，本实用新型中提出一种OLED光学测量机具，其目的在于可以于机台上规划多个测量区，且该OLED测试治具也可以因测试片大小而量身订做，对于在测量区规画上的灵活性也相对提高，相较现有技术的测量仪器，其OLED测试治具皆为固定于测试位置，且治具的大小并不能随意更换，搭配可三轴移动的测量，使其测量上被局限于一固定范围内，且测量数量也被固定住。在本实用新型中，该OLED测试治具放置于该上方测量空间的底面，所以在该OLED测试治具摆放上，只需要考虑上方测量空间的底面的平面大小。再以搭配该三维空间调整座的CCD先行对位之后，再将该辉度计移动置于欲检测的OLED的正确位置进行测量。由上文可知，本实用新型的上方测量空间的底面的平面皆可为测量区域，只需待使用者规划。对于本实用新型的OLED测试治具也与现有的技术有所不同。在本实用新型中使用真空方式吸附该OLED测试片，除了可以固定该OLED测试片之外，也可以使CCD先行对位后的测量位置更为固定且准确。 

为达到上述的目的，本实用新型题出一种OLED光学测量机具，其中包含： 一测量机台，包含一上方测量空间及一下方机件区。该上方测量空间的底面配置有数个测量区，各测量区配置有：至少一OLED测试治具，该OLED测试治具包括位于四边的四个脚架及由四个脚架所支撑的测试平台，该测试平台上可用于放置OLED，以及该OLED测试治具底部尚包含一底面，该底面用于将该OLED测试治具放置于该上方测量空间的底面;其中该OLED测试治具尚包含：数个探针，位于该OLED测试治具的底面，该探针的探针头朝向该测试平台，各探针可以施加电流给与该测试平台上方的OLED，该测试平台对应该探针的位置设有数个探针孔洞可令该探针头伸出该探针孔洞，而与置于该测试平台上的OLED相接触;一光学测量仪器，用于测量该OLED的光学特性，该光学测量仪器位在该上方测量空间的上方，用于接收来自该OLED的光以测量OLED的光学特性;一三维空间调整座，位在该光学测量仪器的上方并将该光学测量仪器夹持住，该三维空间调整座能够调整该光学测量仪器在三个维度方向上的位置，例如可令该光学测量仪器在XY平面上调整到所需要的位置，以对该OLED对位，另外该光学测量仪器也可以在纵轴Z方向进行高低调整已达到所需要的高度。 

其中，该OLED测试治具尚包含至少一个设于该测试平台底面的真空腔，该真空腔以管路连接一个真空泵，该真空泵置于该下方机件区;以及该测试平台对应该真空腔的位置设有至少一个吸附孔洞，该吸附孔洞与该真空腔连通;该真空泵工作使该真空腔形成真空，并通过该吸附孔洞将被测试的OLED吸附在该测试平台上。 

其中，该OLED测试治具尚包含一个对OLED加热以达到所需测量条件的温度晶片，该温度晶片设于该测试平台的下方。 

其中，尚包含一个温度控制器，设于该下方机件区，该温度控制器电连接该温度晶片。 

其中，尚包含一台提供清洁的空气以清除平台上水汽的喷气清净机，该喷气清净机位于该上方测量空间的侧面。 

其中，尚包含一个电源供应器，该电源供应器位于该下方机件区。 

其中，尚包含一台显示器，该显示器内包含一个外接于该测量机台的处理器，该显示器用以连接各工作元件并将接收的信息经由该处理器处理过后显示出来。