[实用新型]一种用于测试LED电路芯片的装置有效
申请号: | 201220362892.6 | 申请日: | 2012-07-19 |
公开(公告)号: | CN202676612U | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | 潘中良;陈翎 | 申请(专利权)人: | 华南师范大学 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 苏运贞;裘晖 |
地址: | 510631 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种用于测试LED电路芯片的装置,其包括控制单元、照明系统、工作台和CCD视频信号采集装置;控制单元与CCD视频信号采集装置连接,CCD视频信号采集装置和照明系统分别位于工作台的上方,该装置通过把被测LED芯片放置于二维工作台上,CCD摄像机对LED芯片进行视频信号的采集,从所采集的视频信号中提取出多幅LED芯片图像,使用中值滤波、直方图均衡化、图像分割等对LED芯片图像进行处理,把所获取的被测的LED芯片的图像与无故障的LED芯片的图像进行比较,来判定被测的LED芯片是否存在缺陷,并获得缺陷的类型。利用本实用新型,可以对LED芯片的一些常见缺陷进行检测,能够发现有缺陷的LED芯片,可以减低生产成本,并提高LED芯片产品的质量。 | ||
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【主权项】:
一种用于测试LED电路芯片的装置,其特征在于:包括控制单元、照明系统、工作台和CCD视频信号采集装置;其中,控制单元与CCD视频信号采集装置连接,CCD视频信号采集装置和照明系统分别位于工作台的上方。
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