[实用新型]一种用于测试LED电路芯片的装置

说明书

技术领域

本实用新型属于LED芯片测试的范围，特别涉及一种用于测试LED电路芯片的装置。

背景技术

LED发光二极管（Light Emitting Diode）是一种半导体固体发光器件，具有功耗低、节能、环保、寿命长、使用简便、无污染等优点，已成为应用很广泛的显示器件之一。近年来，随着LED性能的逐步提高，LED的品种不断增多而价格则稳步下降，因此被广泛应用于背光源、普通照明、城市夜景等多个领域。另一方面，随着LED应用的迅速发展，对LED产品的要求越来越高，对产品的光电性质的要求越来越苛刻，因此对LED产品的基本元件即LED芯片需要进行多种特性与参数的测试，以确保LED芯片的质量达到要求。

在LED芯片的生产与制造过程中，需要涉及光刻、腐蚀、淀积、剥离、镀膜、切割等多种工艺步骤，在这些步骤中由于工艺参数的微小变化或污染物的影响等因素，会导致LED芯片中一些缺陷的产生，例如，在LED芯片的表面常见的缺陷有附着的固体颗粒、金属污染、有机污染、崩边、缺角、斑点、裂痕和划痕等，这些都会对LED芯片的功能造成较大的影响。检测并剔除这些表面缺陷是LED芯片生产过程中的一个重要环节。

对LED芯片的检测，目前人们已研制成功了一些自动化的测试设备，这些设备主要是用于对LED芯片发光的亮度、颜色、以及电流和电压等参数进行测试；对LED芯片中的缺陷，例如金属污染、有机污染、崩边、缺角、斑点、裂痕和划痕等，仍需要测试人员对其中的一些缺陷进行人工检测，因此劳动强度大，效率低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的缺点与不足，提供一种用于测试LED电路芯片的装置，以检测LED芯片的表面划痕、几何边界、斑点、裂痕、电极缺损等多种类型的缺陷。

本实用新型的目的通过下述技术方案实现：一种用于测试LED电路芯片的装置，包括控制单元、照明系统、工作台和CCD视频信号采集装置；其中，控制单元与CCD视频信号采集装置连接，CCD视频信号采集装置和照明系统分别位于工作台的上方；

所述的控制单元为计算机系统，优选为嵌入式计算机系统；

所述的嵌入式计算机系统包括嵌入式处理器、存储器模块、显示模块和嵌入式操作系统；

所述的嵌入式处理器优选为S3C2440A嵌入式ARM微处理器；

所述的存储器模块存储有视频信号采集、图像增强、图像分割和测试结果处理等多个程序；优选为包含Flash存储器和SDRAM存储器；

所述的Flash存储器优选为AMD公司的AM29LVl60D存储器；

所述的SDRAM存储器优选为将两片HY57V561620存储芯片并联得到；

所述的显示模块优选为5.7英寸彩色CSTN液晶显示器；

所述的嵌入式操作系统优选为Windows CE5.0软件；

所述的控制单元还包括以太网接口或USB接口中的一种或两种，可用于将控制单元与其他计算机系统连接，实现数据的传输与通信；

所述的照明系统产生合适的光源即光线照明，保证CCD视频信号采集装置能获得具有足够对比度和清晰度的LED芯片图像，优选为LED红色环形光源；

所述的工作台优选为二维工作台；

所述的二维工作台优选设置在导轨上；

所述的用于测试LED电路芯片的装置还包括电机和平台控制器；控制单元、平台控制器、电机与导轨依次相连；控制单元发出指令控制平台控制器，平台控制器控制电机，电机驱动导轨运行的方向，从而平台控制器最终控制二维工作台的运行方向；

所述的电机优选为步进电机或交流伺服电机；

所述的CCD视频信号采集装置包括CCD摄像机和图像采集卡；

所述的CCD摄像机的摄像头优选为PanasonicWV-CP240/G彩色摄像头；

所述的图像采集卡优选为NI公司的IMAQ PCI-1411采集卡。

本实用新型相对于现有技术具有如下的优点及效果：本实用新型利用图像处理技术，结合计算机的高速性与高效性，能多方位采集LED电路芯片的图像，能够检测LED芯片的表面划痕、几何边界、斑点、裂痕、电极缺损等多种类型的缺陷，可以在一定程度上解决传统方法中的劳动强度大，效率低的问题。

附图说明

图1是本实用新型的示意图，其中实线箭头为信号走向，虚线箭头为光线走向。

图2是本实用新型中的控制单元的示意图。

具体实施方式