[发明专利]一种发光二极管失效检测电路及检测方法有效

专利信息
申请号: 201210586497.0 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN103076532A 公开(公告)日: 2013-05-01
发明(设计)人: 周俊;曹金韡;陈嘉诚 申请(专利权)人: 上海澳星照明电器制造有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 代理人: 刘粉宝
地址: 201318 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种发光二极管失效检测电路及检测方法,该检测电路中若干稳压二极管分别并联在LED阵列中每个LED的两端,恒压电源给LED阵列供电,恒流控制电路控制连接LED阵列中每个LED串的两端,实时检测每个LED串中每个LED的电压降。检测方法包括如下步骤:(1)通过检测电路实时检测LED阵列中每个LED串中的每颗LED的工作状态;(2)检测电路中的三极管上的集电极和发射极两端的电压值将根据LED串中每颗LED的失效情况发生变而进行变化;(3)检测三极管上的集电极和发射极两端的电压值的变化情况来确定LED的失效状态。本发明可以实现正常工作过程中LED阵列中的LED随机处于开路或短路两种失效状态时的在线检测和故障信息提示。
搜索关键词: 一种 发光二极管 失效 检测 电路 方法
【主权项】:
一种发光二极管失效检测电路,其特征在于,所述检测电路包括若干稳压二极管、恒压电源、恒流控制电路,所述若干稳压二极管分别并联在发光二极管阵列中每个发光二极管的两端,所述恒压电源给发光二极管阵列供电,使得发光二极管阵列中每个发光二极管串均处于恒流工作状态,所述恒流控制电路控制连接发光二极管阵列中每个发光二极管串的两端,实时检测每个发光二极管串中每个发光二极管的电压降。
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