[发明专利]一种发光二极管失效检测电路及检测方法

权利要求书

1.一种发光二极管失效检测电路，其特征在于，所述检测电路包括若干稳压二极管、恒压电源、恒流控制电路，所述若干稳压二极管分别并联在发光二极管阵列中每个发光二极管的两端，所述恒压电源给发光二极管阵列供电，使得发光二极管阵列中每个发光二极管串均处于恒流工作状态，所述恒流控制电路控制连接发光二极管阵列中每个发光二极管串的两端，实时检测每个发光二极管串中每个发光二极管的电压降。

2.根据权利要求1所述的一种发光二极管失效检测电路，其特征在于，所述稳压二极管的稳压值比发光二极管的正向电压降高0.5V以上。

3.根据权利要求1所述的一种发光二极管失效检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括单片机，所述单片机与恒流控制电路相接。

4.根据权利要求1或3所述的一种发光二极管失效检测电路，其特征在于，所述恒流控制电路主要由三极管、第一电阻、稳压二极管、第二电阻组成，所述三极管的集电极连接发光二极管阵列中每个发光二极管串的负极和单片机；三极管的发射极通过第二电阻接地；三极管的基极通过第一电阻连接发光二极管阵列中每个发光二极管串的正极，并通过稳压二极管接地。

5.根据权利要求4所述的一种发光二极管失效检测电路，其特征在于，所述三极管工作在放大状态。

6.发光二极管失效检测方法，其特征在于，所述检测方法包括如下步骤：

（1）通过检测电路实时检测发光二极管阵列中每个发光二极管串中的每颗发光二级管的工作状态；

（2）检测电路中的三极管上的集电极和发射极两端的电压值将根据发光二极管串中每颗发光二级管的失效情况发生变而进行变化；

（3）检测三极管上的集电极和发射极两端的电压值的变化情况来确定发光二极管的失效状态。

7.根据权利要求6所述的发光二极管失效检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括单片机将检测电路中三极管上的集电极和发射极两端电压值的变化值通过模数转换变成数字量，并应用模糊控制算法，计算出产生失效故障的发光二级管的个数，送显示单元进行信息显示的步骤。

8.根据权利要求6所述的发光二极管失效检测方法，其特征在于，所述步骤（2）中三极管上的集电极和发射极两端的电压值的变化情况如下：

（21）若发光二极管阵列中某个发光二极管串中某颗二极管发生短路时，发生故障的二极管正向电压降Vf将会变为零；恒流控制电路中的三极管集电极和发射极两端的电压值增加一个Vf值；如发光二极管串有n发光二极管，且全部发生短路故障，则恒流控制电路中的三极管集电极和发射极两端的电压值增加n个Vf值；

（22）若发光二极管阵列中某个发光二极管串中某颗二极管发生开路时，恒流控制电路中的三极管集电极和发射极两端的电压值减少一个Vz－Vf值，其中Vz为并接于发生开路的LED的稳压管的稳压值，Vf为发光二极管工作时的正向压降值；如果发光二极管串有n发光二极管，且全部发生开路故障，则恒流控制电路中的三极管集电极和发射极两端的电压值减少n个（Vz－Vf）值；

（23）若发光二极管阵列中某个发光二极管串中n个发光二极管，其中有n1颗发光二极管发生短路和n2颗发光二极管发生开路时，且n=n1＋n2，则恒流控制电路中的三极管集电极和发射极两端的电压值变化为n1×Vf－n2×（Vz－Vf）。